Occasion JEOL JSM 6460LA #9362208 à vendre en France

JEOL JSM 6460LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution. Il est capable de recueillir des images détaillées et des données d'analyse d'échantillons à l'échelle atomique et nanométrique. Il est équipé d'un canon à émission de champ, d'un étage à haute résolution et d'un équipement de traitement d'image. Le système est très efficace et fiable et peut être utilisé pour étudier une variété d'échantillons dans les industries de la biochimie à l'ingénierie des matériaux. JSM 6460LA utilise une source de canon à émission de champ (FEG) pour produire un faisceau d'électrons. Cette source permet à l'instrument de produire des images à très haute résolution avec un rapport signal/bruit très amélioré. Cette source FEG augmente la résolution de l'instrument à 1nm, et elle augmente également la sensibilité du détecteur. Le détecteur est conçu pour collecter des électrons secondaires, permettant à l'instrument d'atteindre des images de haute qualité. Le microscope dispose également d'un étage de haute précision. Cette étape permet de déplacer l'échantillon pour qu'il puisse être imagé avec précision. L'étage est capable de transporter jusqu'à 10g de poids d'échantillon et une surface de balayage jusqu'à 130mm par 130mm. Il dispose également d'une capacité grand angle, permettant de scanner l'échantillon sous différents angles pour l'analyse. En plus de ses capacités d'imagerie, JEOL JSM 6460LA dispose également d'une unité de traitement d'image. Cette machine est conçue pour améliorer la qualité des images obtenues par l'instrument. Il est capable d'améliorer automatiquement les images en ajustant la saturation des couleurs, le contraste et la luminosité. L'outil a également la capacité d'effectuer des mesures automatisées des lignes de balayage. Cela comprend des mesures telles que la largeur des lignes, la section transversale, et d'autres dimensions. Dans l'ensemble, JSM 6460LA est un microscope électronique à balayage extrêmement puissant qui est conçu pour l'imagerie détaillée et l'analyse. Il est capable de produire des images très détaillées et des données d'analyse d'échantillons à l'échelle atomique et nanométrique. C'est un atout efficace et fiable qui convient à une variété d'industries pour explorer les structures atomiques et nanométriques des échantillons.