Occasion JEOL JSM 6460LV #293648403 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6460LV est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse haute résolution. Il est utilisé pour diverses applications de recherche allant de la science des matériaux à la technologie des semi-conducteurs. JEOL JSM-6460LV utilise la dernière technologie de détection d'électrons pour fournir des performances analytiques supérieures avec un bruit minimal et une résolution superbe. Le microscope électronique à balayage est capable de fournir une résolution en couches allant jusqu'à 0,5 nm en utilisant à la fois la SE (imagerie électronique secondaire) et l'ESB (imagerie électronique rétrodiffusée). JSM 6460LV utilise un équipement d'imagerie avancé composé d'un canon à électrons, d'une lentille de condenseur, d'un objectif, d'un intensificateur d'image et d'un système de visualisation. Le canon à électrons est utilisé pour générer des électrons focalisés par la lentille du condenseur et dirigés vers l'échantillon. L'objectif focalise alors les électrons secondaires et les électrons rétrodiffusés sur le tube intensificateur d'image. L'intensificateur d'image amplifie alors et convertit le signal en image visible sur l'unité de visualisation. Le JSM 6460LV a une distance de travail de 2-23 mm et une plage de grossissement de 8 -30,000x. L'interface utilisateur ne laisse rien à désirer puisqu'elle est équipée d'un moniteur couleur de 10,4 pouces, d'une unité de contrôle dédiée et d'un joystick amovible. En outre, la machine est compatible avec une variété d'étages automatisés de manipulation motorisée de l'échantillon au sein de la chambre SEM. Le JSM 6460LV est capable d'imagerie, d'analyse et de cartographie à haute résolution avec divers porte-échantillons, y compris des porteurs plats, tridimensionnels et biologiques. Avec un détecteur de rayons X dispersif d'énergie, une simple analyse élémentaire et chimique peut également être effectuée. Les autres caractéristiques de cet outil robuste comprennent une connexion Ethernet intégrée et un paquet logiciel Joyse EDS. En conclusion, JSM-6460LV Scanning Electron Microscope est un instrument avancé et performant capable d'imagerie, d'analyse et de cartographie à haute résolution. Son interface facile à utiliser, sa grande distance de travail et son ensemble puissant de fonctionnalités en font un atout inestimable dans n'importe quel environnement de recherche.