Occasion JEOL JSM 6460LV #293762948 à vendre en France

JEOL JSM 6460LV est un microscope électronique à balayage avancé doté de la technologie du faisceau électronique. Il s'agit d'un microscope polyvalent qui permet au chercheur de mener une variété d'expériences incluant l'imagerie, la cristallographie et l'analyse de sonde atomique. L'instrument utilise une source d'électrons émettrice de champ Schottky (FEIS) capable de générer un courant de faisceau maximal de 2,0 nA et une tension d'accélération pouvant atteindre 150 kV. L'optique électronique JEOL JSM-6460LV utilise un système de lentilles multiples avec une colonne optique électronique, qui est capable d'image, de détecter et d'analyser des électrons. L'optique électronique unique comprend un système de détection dans les lentilles, qui comprend un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffuseur, un détecteur de cristaux mouillés, un détecteur d'émission de champ et un détecteur de rayons X. En utilisant les différents détecteurs, le chercheur est en mesure d'obtenir une gamme d'images, de signaux et de spectres différents. JSM 6460LV dispose également d'une variété d'étapes d'échantillonnage, qui fournissent une excellente stabilité de l'échantillon au microscope. Avec l'utilisation d'un porte-échantillon inversé, JSM-6460LV est capable d'effectuer toutes les expériences à basse température qui nécessitent un refroidissement ou un chauffage. JEOL JSM 6460LV est équipé d'une variété de fonctionnalités et de logiciels de contrôle des instruments qui permettent au chercheur de contrôler avec précision un large éventail de paramètres expérimentaux et d'obtenir des images de haute qualité. Le logiciel intègre des fonctions de contrôle du courant du faisceau d'électrons, de traitement d'images, d'analyse d'images et de traitement de spectrométrie. JEOL JSM-6460LV fournit également une gamme de capacités innovantes de préparation d'échantillons, y compris la pulvérisation d'ions Argon, le dépôt de grappes d'argon et le dépôt de pulvérisateurs de carbone. La pulvérisation d'ions argon permet au chercheur de créer une couche mince d'un métal ou d'oxydes à la surface de l'échantillon, tandis que les capacités de dépôt de pulvérisation d'argon et de pulvérisation de carbone permettent un revêtement électrostatique efficace de la surface de l'échantillon. Dans l'ensemble, JSM 6460LV est un microscope électronique à balayage polyvalent qui est équipé d'une optique électronique de pointe et d'un logiciel de contrôle des instruments, ainsi que d'autres caractéristiques telles que des étages d'échantillons pour améliorer la stabilité, la pulvérisation d'ions Argon et diverses capacités de revêtement. Cela en fait un choix idéal pour les chercheurs qui cherchent à représenter, détecter et analyser une grande variété d'échantillons.