Occasion JEOL JSM 6460LV #9236116 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6460LV (SEM) est un puissant instrument d'imagerie utilisé pour l'observation d'échantillons à l'échelle nanométrique. Ce modèle est capable de générer des images à haute résolution jusqu'à 50 000 x avec un détecteur d'électrons rétrodiffuseur, offrant aux utilisateurs une représentation efficace et détaillée de la morphologie ou de la structure d'un échantillon. JEOL JSM-6460LV est équipé d'un canon à émission de champ, qui génère un faisceau d'électrons de haute qualité pour l'imagerie à fort grossissement. Ceci est réalisé avec une tension d'accélération de 2kV sensiblement plus faible, ce qui permet d'observer des échantillons plus fins avec moins de dommages aux échantillons qu'avec les SEM classiques. De plus, les chercheurs ont la capacité de personnaliser leurs paramètres en fonction du type d'échantillon qu'ils analysent et des résultats souhaités. JEOL 6460LV dispose d'une suite logicielle intégrée de traitement d'images (Image Processing Suite), qui comprend plusieurs fonctionnalités pour l'édition d'échantillons d'images. Cela comprend des filtres pour régler les niveaux de contraste, corriger les aberrations sphériques, affûter les images, supprimer le bruit, ajuster la luminosité, et plus encore. Le microscope dispose également d'un équipement de détection in situ (IDD) qui aide à identifier les cellules infectées par le virus. JEOL 6460LV est équipé d'une chambre à vide avancé (ALV), qui est une chambre haute pression pouvant fonctionner à des pressions comprises entre 15 et 500 mtorr. Cela permet à l'utilisateur d'observer des échantillons en mode basse dépression, avec un minimum de dommages et une grande facilité d'utilisation. De plus, la chambre ALV est également équipée d'un système de purge automatisée des gaz, qui aide également à la préparation des échantillons. D'autres caractéristiques de JEOL 6460LV comprennent une unité de numérisation piézolever, qui permet un alignement précis des échantillons, et une machine d'alignement du faisceau d'électrons à l'échantillon pour régler le faisceau d'électrons sur l'échantillon. En outre, le modèle JEOL est amélioré par plusieurs interfaces électroniques qui facilitent le fonctionnement multiusager et le partage de données entre l'instrument et d'autres ordinateurs de laboratoire. En conclusion, JSM 6460LV est un microscope électronique à balayage moderne capable de fournir des images à haute résolution et époustouflantes d'échantillons comme les nanowires et les nanotubes. Ce modèle dispose de diverses fonctions d'imagerie avancées, et d'un environnement à faible vide pour l'imagerie précise des échantillons délicats. Enfin, cet outil a également plusieurs fonctionnalités pour le traitement précis des images, ainsi que des capacités d'automatisation de laboratoire pour augmenter l'efficacité de travail.