Occasion JEOL JSM 6460LV #9244467 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 9244467
Style Vintage: 2002
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM)
Tungsten electron emission tip: 30 kV
Vacuum / Gas pressure: 10-270 Pa
Large specimen chamber
With 5-Axes motorized
Magnification: 5x - 3,00,000x
(3) Segment solid state back scattered electron detectors:
Composition mode imaging
Topography mode imaging
Shadow mode imaging
Tungsten filament
SEI, BEI in HV electron detectors
BEI in LV electron detectors
(2) Oil pumps included
Operating system: Windows 2000
2002 vintage.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6460LV (SEM) est l'un des SEM les plus avancés disponibles. C'est un instrument performant pour l'imagerie des surfaces et le contrôle des interactions du faisceau d'électrons. Cet équipement est idéal pour les applications nécessitant une haute résolution avec une qualité d'image supérieure. JEOL JSM-6460LV a un design à faible vide et à faible vibration pour des performances d'imagerie optimales. Il est équipé d'un filament de tungstène et d'un canon d'émission thermo-champ LaB6 pour une résolution et une flexibilité maximales. Le système dispose également d'un filtre à haute résolution unique pour l'imagerie à faible énergie, lui permettant de capturer des détails fins tels que de très petites particules et des défauts. JSM 6460LV dispose d'un détecteur Everhart-Thornley à haute sensibilité et faible bruit pour l'imagerie SEM. Il offre une gamme dynamique supérieure et un temps de réponse rapide, permettant une imagerie non destructive des structures de surface. Le détecteur présente également une efficacité quantique élevée pour une sensibilité de détection maximale. L'unité 6460LV est conçue avec une machine à focaliser automatisée pour la plus grande précision et précision lors de l'imagerie. Cet outil comprend également un détecteur d'électrons secondaire pour acquérir des informations de faible profondeur sur les structures de surface. Les caractéristiques de centrage automatique et de stigmatisation facilitent l'alignement correct de l'échantillon. Ce SEM dispose d'un étage à grande vitesse et à grande surface pour le balayage rapide de grands échantillons. Il est capable de scanner des échantillons jusqu'à 30nm. L'actif a également une vitesse de scan allant jusqu'à 5.000 images par seconde pour l'acquisition rapide d'images. JSM-6460LV microscope électronique à balayage fournit le plus haut niveau de performance d'imagerie disponible dans un SEM. Grâce à sa conception à faible vide, à faible vibration, au détecteur Everhart-Thornley et à ses caractéristiques puissantes, ce modèle est idéal pour l'imagerie de surface détaillée. Avec ses capacités de haute résolution et ses fonctions automatisées, les utilisateurs peuvent obtenir une imagerie de haute qualité avec la plus grande précision.
Il n'y a pas encore de critiques