Occasion JEOL JSM 6480LV #293597485 à vendre en France

JEOL JSM 6480LV est un microscope électronique à balayage (SEM) capable d'analyser un large éventail de matériaux. Il permet aux utilisateurs d'observer les informations morphologiques et élémentaires détaillées du spécimen examiné. JSM 6480LV est équipé d'un détecteur Everhart-Thornley SE pour l'imagerie électronique secondaire et d'une SEMENCE de type one-touch pour l'imagerie ESB. Il est capable d'imagerie régulière SE et BE, ainsi que de produire des images secondaires de rétrodiffusion d'électrons. En outre, JEOL JSM 6480LV peut également produire des spectres d'électrons rétrodiffusés et effectuer des balayages de ligne pour la cartographie d'éléments. La chambre d'échantillonnage de JSM 6480LV est capable d'atteindre une taille maximale d'échantillon de 150mm (5,9 pouces) de diamètre et de 250mm (10,0 pouces) de hauteur, avec des étages de support d'échantillon ayant une plage X-Y réglable de 50mm (1,97 pouces). L'étage est construit à partir d'un alliage très durable, ce qui le rend résistant à la corrosion et aux rayures. En plus du mode d'imagerie SEM standard, JEOL JSM 6480LV est capable de produire des images à haute résolution à l'aide de sa fonction SEM haute résolution à pression variable (VP-SEM). Cette fonction fonctionne en réduisant la pression dans la chambre d'échantillonnage, contribuant à améliorer le contraste et la netteté des détails dans les images résultantes. JSM 6480LV est équipé d'un détecteur Everhart-Thornley SE pour l'imagerie électronique secondaire et d'un contrôleur à balayage unique pour l'imagerie ESB. Il est possible de produire des spectres d'électrons rétrodiffusés et des scans de conduite pour la cartographie des éléments. En incorporant une ouverture 5 axes, JEOL JSM 6480LV offre également des capacités d'imagerie avancées et une imagerie haute vitesse avec un balayage multi-trames jusqu'à 8x. Également inclus avec JSM 6480LV est un processeur de signal qui permet aux utilisateurs d'ajuster les signaux de détection pour contrer l'effet de charge et optimiser la dynamique du signal et la clarté d'image. Ce modèle SEM est également livré avec une fonction autofocus et un zoom numérique pour permettre un changement rapide de focus. JEOL JSM 6480LV est un système SEM très polyvalent qui a été conçu pour permettre aux utilisateurs d'explorer les détails de leurs spécimens avec précision et précision. Grâce à son imagerie haute résolution, à sa variété de techniques d'imagerie et à ses fonctionnalités supplémentaires, il peut fournir des informations précieuses sur la structure des matériaux et soutenir le développement de nouveaux matériaux.