Occasion JEOL JSM 6480LV #9249037 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6480LV (SEM) est un instrument de laboratoire utilisé pour analyser des échantillons de matériaux au niveau microscopique. Il utilise un faisceau d'électrons à haute énergie pour interagir avec l'échantillon, ce qui donne des formes de données basées sur l'interaction du faisceau avec l'échantillon. JSM 6480LV dispose d'un détecteur Everhard-Thornley SE (électrons secondaires) permettant une imagerie haute résolution et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) moderne fournissant une imagerie efficace de l'ESB. Il fonctionne avec une faible tension d'accélération, ce qui rend le SEM adapté à l'étude des échantillons non conducteurs. La grande chambre permet un positionnement et des manipulations faciles de différents échantillons sans avoir besoin d'une chambre à vide. JEOL JSM 6480LV SEM a un grand champ de vision pour les échantillons jusqu'à une taille de 12 x 0,9 mm, avec grossissement allant jusqu'à 500.000x. La haute résolution de l'instrument permet l'imagerie 2D et l'analyse chimique des structures complexes et des caractéristiques dans les échantillons de matériaux, ce qui en fait un outil efficace pour la recherche et le développement en nanotechnologie. Pour garantir des résultats fiables et reproductibles, JSM 6480LV dispose de plusieurs fonctionnalités avancées telles que l'imagerie par points variables pour étudier les changements localisés dans l'échantillon, la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM) pour la quantification des éléments lumineux, un miniprobe à rayons X intégré et un détecteur EDX pour l'analyse élémentaire, ainsi qu'une gamme complète de logiciels permettant l'alignement automatique des échantillons et le contrôle des données collectées par les utilisateurs. JEOL JSM 6480LV est un outil idéal pour la recherche dans divers domaines tels que les nanomatériaux, la conception de médicaments pharmaceutiques, la production de MEMS et les enquêtes judiciaires. Ses caractéristiques innovantes et sa qualité d'imagerie supérieure en font un outil inestimable pour les scientifiques et les ingénieurs qui ont besoin de visualiser et d'analyser un large éventail d'échantillons matériels au niveau microscopique.