Occasion JEOL JSM 6480LV #9285443 à vendre en France

JEOL JSM 6480LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'analyse avancé utilisé pour cartographier et analyser les surfaces diélectriques et métalliques. JSM 6480LV offre une capacité d'imagerie électronique secondaire haute résolution, permettant une qualité d'image supérieure avec une profondeur de champ exceptionnelle et un meilleur rapport signal sur bruit. JEOL JSM 6480LV dispose d'une grande distance de travail entre l'échantillon et le détecteur et d'un grand champ de vision, fournissant un plus grand niveau de détail. La configuration du détecteur AE, avec une résolution d'image standard allant jusqu'à Everhart-Thornley avec une résolution latérale de 3,5nm et une résolution de 5,2nm par image, fournit un mode d'imagerie qui permet une meilleure visualisation des petites structures, des caractéristiques de surface et des motifs d'interférence des échantillons. Le système comprend également une technique d'imagerie sous vide spécifique permettant l'imagerie d'échantillons sans préparation d'échantillons. Ceci permet de capturer des caractéristiques physiques à l'échelle des microns sans avoir à effectuer des traitements de préparation d'échantillons avant et pendant l'analyse. JSM 6480LV est conçu pour fournir une gamme complète de techniques d'analyse, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée, la cartographie chimique, la spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie (EDS), la fluorescence aux rayons X (XRF) et la microanalyse par balayage (SAM). Ces techniques fournissent une analyse microstructurale, l'identification de la composition chimique et la cartographie élémentaire avec une grande précision. JEOL JSM 6480LV comprend un Auto-Sampler qui permet de cicatriser les échantillons et de les placer dans la chambre pour une analyse automatisée sans qu'il soit nécessaire de les placer manuellement. La source de faisceau d'ions à haute résolution énergétique assure une imagerie et une analyse chimiques très détaillées. JSM 6480LV est équipé d'un étage de spécimen automatisé permettant le balayage et l'imagerie continus de grands échantillons sans nécessiter de réglages manuels ou de reclassement d'échantillons. Le système dispose d'une chambre à ultra-haut vide (UHV) contrôlée par ordinateur pour le montage des échantillons, assurant l'intégrité de la surface avant et pendant l'analyse. JEOL JSM 6480LV est un outil inestimable pour étudier les propriétés physiques et chimiques des matériaux pour toute une gamme d'applications telles que l'optimisation des procédés de microfabrication, les photovoltaïques/cellules solaires, les nanomatériaux/nanoélectroniques et l'analyse des défaillances. Les capacités de haute résolution permettent l'imagerie précise et l'analyse de caractéristiques de surface complexes. Le système est fiable, robuste et offre commodité et flexibilité, ce qui en fait une solution polyvalente pour l'analyse avancée des échantillons.