Occasion JEOL JSM 6490LV #293594823 à vendre en France

JEOL JSM 6490LV est un microscope électronique à balayage (SEM) connu pour sa résolution d'image supérieure, son imagerie haute résolution (HRI) et sa longue durée de vie. Il utilise un faisceau d'électrons pour acquérir des images de spécimens. Ce SEM est entièrement automatisé, avec un étage de spécimen entièrement intégré, un système double détecteur intégré et un système de vide. JEOL JSM-6490LV est un SEM qui fournit une résolution allant jusqu'à 1 nm, et est capable de produire des images tridimensionnelles à des grossissements allant jusqu'à 100.000x. Il est optimisé pour l'imagerie de matériaux en couches minces, de métaux et d'autres matériaux qui nécessitent une imagerie haute résolution. Le contrôle précis du faisceau et les capacités d'imagerie avancées, combinés à ses fonctionnalités automatisées, font de JSM 6490LV un outil idéal pour la caractérisation des matériaux, l'analyse des défaillances et les applications de recherche. Les détecteurs doubles de JSM-6490LV offrent une sensibilité et une détection supérieures des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des signaux de rayons X. Les détecteurs recueillent des signaux à partir d'une gamme d'angles et fournissent un hébergement complet d'échantillons qui nécessitent un alignement compliqué et une imagerie multidirectionnelle. Les images produites par JEOL JSM 6490LV offrent un excellent contraste et des détails précis, ce qui en fait un instrument idéal pour l'analyse des défauts. JEOL JSM-6490LV dispose d'un étage de spécimen entièrement automatisé qui peut être programmé pour les mouvements linéaires et angulaires avec une résolution de 0,1 μ m (10 nm). Cela permet à l'utilisateur de repositionner le spécimen rapidement et avec précision, ce qui permet d'améliorer l'imagerie et l'analyse. Le contrôle avancé de la navigation et de la position du spécimen garantit que les paramètres corrects sont toujours utilisés sur le même échantillon chaque fois qu'il est imagé. L'étage de l'échantillon est également équipé d'options de contrôle environnemental et anti-vibrations, minimisant toute distorsion de mouvement pendant l'imagerie. Le microscope électronique à balayage JSM 6490LV fournit une solution d'imagerie capable pour un large éventail d'applications de caractérisation des matériaux. C'est un instrument idéal pour l'analyse des échecs, l'imagerie à l'échelle nanométrique et la recherche. Sa résolution supérieure, ses fonctionnalités automatisées et ses détecteurs doubles avancés en font un excellent choix pour les paramètres de laboratoire qui nécessitent des résultats d'imagerie précis et détaillés.