Occasion JEOL JSM 6490LV #293800978 à vendre en France

JEOL JSM 6490LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une utilisation dans une variété d'applications de recherche et de l'industrie. Afin de permettre l'imagerie précise des échantillons, le microscope utilise à la fois des électrons secondaires (SE) et des électrons rétrodiffusés (BSE). JEOL JSM-6490LV est équipé d'un canon à émission de champ à haute résolution et à fort grossissement (FEG), qui permet une tension d'accélération maximale de 30 kV ainsi qu'un détecteur SE/ESB à haute résolution qui fournit une résolution pouvant atteindre 1,3 nm. Unique à ce microscope est son mode de fonctionnement à faible vide, qui est idéal pour les échantillons non conducteurs ou lorsque l'observation d'électrons à faible kV est souhaitée. Ce microscope est équipé d'un système automatisé robuste d'entraînement corporel au microscope et d'un objectif haute performance de grand diamètre. En conséquence, il est capable d'imagerie haute résolution pour des échantillons jusqu'à 200mm de hauteur ainsi qu'un angle d'ouverture jusqu'à 60 °. En outre, JSM 6490LV offre un champ de vision optionnel 5:1, ce qui augmente la capacité du système à observer de grands spécimens. Les capacités d'imagerie de ce SEM s'étendent au-delà de l'imagerie typique des propriétés de surface. Équipé d'un détecteur de rayons X dispersifs en énergie (EDX), ce microscope est capable d'analyse élémentaire chimique, structurelle et quantitative pour des éléments allant du béryllium à l'uranium. Ce détecteur EDX est capable d'acquérir des données en quelques secondes et d'effectuer des analyses détaillées, ce qui permet aux utilisateurs de recueillir une mine d'informations sur leur échantillon. Grâce à sa haute résolution, à sa polyvalence et à son contrôle automatisé, ce microscope est également idéal pour la reconstruction 3D et l'imagerie tomographique. En conclusion, JSM-6490LV fournit aux chercheurs un outil d'imagerie puissant et polyvalent capable d'imiter avec précision des échantillons à faible et à forte force dans une variété d'applications industrielles et de recherche. Sa combinaison de canon à électrons, de détecteur et de contrôle de balayage automatisé fournit un système complet pour l'imagerie et l'analyse d'une large gamme d'échantillons, avec l'avantage supplémentaire de pouvoir effectuer un grand nombre de ces analyses en quelques instants.