Occasion JEOL JSM 6490LV #293811638 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6490LV (SEM) est un instrument puissant utilisé dans la recherche sur les matériaux. Il combine les principes de l'imagerie électronique secondaire avec des capacités analytiques à haute résolution. Cet instrument est équipé d'un canon à émission de champ Schottky (FEG) qui émet un faisceau d'électrons fortement focalisé pour la transmission et la microscopie électronique à balayage. La FEG a une faible tension, un courant élevé, et une propagation extrêmement faible des énergies électroniques. Cela permet une imagerie haute résolution à l'échelle du sous-nanomètre et une meilleure analyse des échantillons. En plus des excellentes capacités d'imagerie, JEOL JSM-6490LV est également équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDX) de pointe. Cette composante analytique permet de recueillir avec précision les données sur la composition chimique, y compris les éléments présents sur l'échantillon, ainsi que leur concentration relative. De plus, l'utilisation de l'EDX accroît les capacités d'imagerie des SEM en fournissant des informations supplémentaires qui ne sont pas vues dans les seules images électroniques secondaires. Le système EDX comprend également un détecteur sans fenêtre à haut rendement, un analyseur multi-canaux hautement sensible et un puissant logiciel de microanalyse à rayons X dispersif d'énergie pour une analyse facile et rapide des échantillons. JSM 6490LV est également équipé d'un détecteur X-Flash EDX d'Oxford INCA. Cela améliore encore la précision du système EDX, car il fournit une faible sensibilité énergétique pour les éléments jusqu'à platine et un excellent rapport signal sur bruit. L'Oxford INCA a également une faible capacité de comptage qui permet une analyse plus détaillée des oligo-éléments. JSM-6490LV est un SEM très polyvalent avec de multiples capacités d'imagerie. Il peut être utilisé aussi bien en microscopie électronique à balayage à basse tension que dans l'environnement (ESEM). En mode SEM basse tension, le microscope fonctionne à une tension comprise entre 0,3 et 25kV et fournit une résolution d'image inégalée. Alors qu'en mode ESEM, JEOL JSM 6490LV est capable d'un large éventail d'études environnementales et peut détecter un vide élevé et une basse pression atmosphérique (jusqu'à 0,1 mbar) sans chambre à vide intermédiaire. Dans l'ensemble, JEOL JSM-6490LV est un microscope électronique à balayage hautement capable avec d'excellentes caractéristiques pour l'imagerie et les études analytiques. Il convient à un large éventail d'applications de recherche, y compris l'analyse des particules, les études morphologiques et l'analyse intégrée des matériaux. En outre, JSM 6490LV est capable de fonctionner en microscopie électronique à balayage à basse tension et à balayage environnemental. Cela en fait un outil idéal pour les chercheurs effectuant des études avancées en sciences des matériaux, en géologie, en recherche biomédicale et en nanotechnologie.