Occasion JEOL JSM 6490LV #9213891 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6490LV (SEM) est un instrument polyvalent et puissant pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution. Cet instrument dispose d'un large éventail de porte-échantillons pour la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM), permettant l'analyse d'échantillons dans divers environnements, y compris l'humidité, le vide et la basse/haute température. Le grossissement maximal qui peut être atteint avec le SEM est de 100.000x, et les détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés peuvent être utilisés dans l'imagerie et l'analyse élémentaire. Le SEM a une plage de tension de fonctionnement de 1 - 30kV, permettant un contrôle fin de la tension d'accélération pour assurer le fraisage des échantillons et la résolution des surfaces délicates. Le contrôle fin est particulièrement utile dans les caractéristiques d'imagerie de moins de 0.5nm de taille. La sensibilité à l'analyse des rayons X est également possible avec JEOL JSM-6490LV, ce qui permet de quantifier facilement les éléments mineurs et traces présents dans les spécimens. Le SEM dispose d'un étage automatisé pour l'imagerie de grands spécimens et peut scanner jusqu'à 100mm de diamètre. JSM 6490LV possède également un détecteur linéaire, permettant une imagerie facile des échantillons de balayage de ligne. De plus, la navigation et l'imagerie automatisées permettent une acquisition rapide d'images. Le JSM 6490L se décline en deux paquets de base, la version standard et le paquet ESEM. La version standard est pour ceux qui n'ont pas besoin des capacités de la chambre de balayage de l'environnement. Le paquet ESEM comprend une chambre de balayage de l'environnement pour les analyses des basses et hautes températures, de l'eau et du gaz. JSM-6490LV SEM est un instrument extrêmement polyvalent et puissant qui peut être utilisé dans une variété d'applications. Sa conception conviviale, sa gamme de tension variable, sa navigation automatisée et ses capacités d'analyse élémentaire en font un outil inestimable pour tout laboratoire. Avec sa capacité d'image de surfaces délicates avec la plus haute résolution, il peut fournir des données fascinantes et détaillées qui seraient autrement inaccessibles dans un SEM plus traditionnel.