Occasion JEOL JSM 6490LV #9229495 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6490LV (SEM) est un instrument très avancé pour l'imagerie et l'analyse de la structure tridimensionnelle d'un large éventail de matériaux. Sa conception à la fine pointe de la technologie est dotée d'un grand étage 5 axes capable de contrôler avec précision le mouvement, permettant de scanner de grandes zones avec des vitesses rapides. Cela rend le 6490LV idéal pour mener des enquêtes et des analyses matérielles générales. Le 6490LV comporte une colonne d'électrons avec une forte émission de champ d'électrons et une grande source d'émission de champ (FEG) de 40 000 à 90,000V. L'optique électronique comprend un système de condenseur de bobine de balayage fournissant une variété de réglages de condenseur pour des conditions d'imagerie optimales et des grossissements de 10x à 15.000x. Une large distance de travail sélectionnable de 18 à 60 mm est disponible pour le fonctionnement de plusieurs accessoires, tels que des détecteurs, des lentilles et des porte-échantillons. Le 6490LV est équipé d'une variété de détecteurs, permettant l'imagerie simultanée de nombreux types d'informations de signal. Cela comprend un détecteur de rétrodiffusion de résolution de 6k x 8k pixels pour acquérir des images SE (électrons secondaires) à haute résolution. Il comprend également un détecteur SE1 à haute résolution, un détecteur ESB (rétrodiffusion d'électrons) à haute sensibilité et un détecteur EBSD (rétrodiffusion d'électrons) facultatif pour la caractérisation microstructurale. Le puissant détecteur de rayons X permet au 6490LV de générer des cartes de rayons X et des cartes de profil pour l'analyse chimique. Il comprend quatre ensembles de détecteurs ; un détecteur à scintillation, un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS), un détecteur à perméat radio et un spectromètre à rayons X dispersif à longueur d'onde (WDX). Les détecteurs EDS et WDX peuvent analyser la composition élémentaire en haute résolution et précision. Le 6490LV est conçu avec la commodité de l'utilisateur à l'esprit. Les panneaux tactiles couleur permettent de contrôler facilement les détecteurs SE/ESB, le réglage de tension, le réglage d'étage et l'acquisition de données. Une flexibilité de conception intégrée permet aux utilisateurs de passer rapidement entre les modes environnementaux et analytiques. En conclusion, le microscope électronique à balayage JEOL JSM-6490LV est un instrument perfectionné et polyvalent capable d'imager et d'analyser un large éventail de matériaux. Sa remarquable optique électronique, ses étages d'échantillons sélectionnables et son réseau de détecteurs offrent aux utilisateurs une vaste gamme de capacités, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche et l'analyse.