Occasion JEOL JSM 6490LV #9278879 à vendre en France

ID: 9278879
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 3.0 nm Includes: (2) CPU (3) APC Back-ups KEITHLEY 487 Picoammeter / Voltage source KE Infrared chamber scope interface JOEL MP-05010 Net gear ProSafe 5 Ports (2) PANASONIC Vacuum pumps Power cords (2) Monitors Power supply: 100 V, 50/60 Hz, 30 A.
JEOL JSM 6490LV est un microscope électronique à balayage de haute précision (SEM) utilisé dans les laboratoires de recherche et les établissements d'enseignement. Il offre une large gamme d'options pour les grossissements, les résolutions et les faisceaux d'électrons qui permettent l'imagerie de matériaux micro et nanométriques de qualité supérieure. JEOL JSM-6490LV fournit une excellente résolution, avec la capacité d'image des matériaux jusqu'à un grossissement de 100.000x. Il est équipé d'une LaB6 source d'électrons haute tension, fournissant un faisceau d'électrons stable et propre. La source fournit des niveaux de bruit extrêmement bas, et est capable de stabiliser le faisceau d'électrons sous microns pour une manipulation précise du faisceau. JSM 6490LV dispose d'une chambre d'échantillonnage conçue pour faciliter l'installation et l'enlèvement des échantillons. Avec un viseur clair, il est facile d'examiner rapidement les échantillons, et l'éclairage de l'échantillon LED inclus rend facile de reconnaître et de localiser les échantillons. Le SEM est également équipé d'une technologie de focalisation automatique qui permet la focalisation automatique et le balayage des objets dans la chambre. En outre, JSM-6490LV dispose d'un étage d'échantillonnage avancé à deux axes avec une grande capacité d'échantillonnage allant jusqu'à 300 x 300mm. Il est également équipé d'un système de mouvement motorisé ultra-précis qui assure précision, stabilité et répétabilité. Le SEM est également capable d'acquérir des images dans différents modes dont SEM, EDS, CL, et images stéréoscopiques. Enfin, JEOL JSM 6490LV dispose également d'un système de filtrage avancé qui améliore la précision de l'instrument lors de l'imagerie d'une variété de matériaux. Il a des sorties de signaux numériques et analogiques, et est équipé d'un logiciel intégré pour contrôler l'optique électronique et l'analyse d'échantillons. Avec sa conception robuste et ses capacités avancées, JEOL JSM-6490LV est un instrument idéal pour une gamme d'applications de recherche et développement en sciences des matériaux.
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