Occasion JEOL JSM 6490LV #9293317 à vendre en France
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Vendu
ID: 9293317
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDAX Octane 9 Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
Operating system: Windows 10
DENTON VACUUM Desk V Sputter coater
With specimen holders and accessories
Electron gun
Pre-centered tungsten
Accelerating voltage: 0.3 Volts to 30 kV
High vacuum resolution: 3 nm at 30 kV
Low vacuum resolution: 4 nm at 30 kV
Magnification: 5x - 300,000x Secondary electron image
Auto-focus
Auto-stigmator
Auto-gun (Saturation, Bias and Alignment)
Auto-contrast
Auto-brightness
Continuous auto bias
With fine X/Y controllable directions
Diffusion pumped specimen chamber
Specimen stage
Motions:
X: 125 mm
Y: 100 mm
Z: 5 mm to 80 mm
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360° Continuous
Full coverage: 32 mm
Maximum specimen size, 8”
Coverage specimen loadable, 12”
Super conical objective lens
(3) Objective final lens apertures
High resolution LCD monitor, 20"
BSE Detector.
JEOL JSM 6490LV est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Il est basé sur une plate-forme technologique à double faisceau composée d'un canon à électrons, d'une colonne et d'une variété de détecteurs. Le canon à électrons est une cathode à arc thermique capable d'émettre des électrons avec une énergie d'atterrissage de 0,5 keV et une puissance maximale à 25 keV. La colonne, qui dirige le faisceau d'électrons, est un étage variable de 100 kV avec une tension d'accélération maximale de 30 kV. La caractéristique de basse tension unique de cette colonne permet l'imagerie la plus haute résolution pour les échantillons, tout en permettant la plus grande flexibilité en ce qui concerne les images. JEOL JSM-6490LV dispose également d'un large éventail de capacités d'imagerie, telles que des images secondaires et rétrodiffusées pour des applications SEM standard ainsi que des applications avancées telles que la spectrométrie dispersive en longueur d'onde (WDS), la spectrométrie dispersive en énergie (EDS) et l'analyse de microsonde électronique (EPMA). Avec EDS, l'utilisateur peut obtenir des informations élémentaires à partir d'échantillons en détectant des rayons X émis par l'échantillon lorsqu'il est bombardé par un faisceau d'électrons. JSM 6490LV est équipé d'un étage échantillon entièrement motorisé, d'un mini étage SEM motorisé et d'un étage XYZ motorisé. Avec une variété de lentilles objectives à choisir, l'utilisateur peut observer des échantillons avec grossissement de 10x à 700.000x. Il comprend également un système automatisé de réglage de la taille des pixels pour améliorer la résolution de l'image. Une pompe à vide est incluse dans le système pour s'assurer que la chambre d'échantillonnage est toujours maintenue dans un état de vide élevé. Cela permet d'effectuer des expériences d'imagerie et de spectroscopie à haute résolution avec une perturbation minimale de l'échantillon. JSM-6490LV peut également être manipulé avec divers manipulateurs, tels qu'une tourelle de lentille électrostatique, une ouverture, un grossissement et une déviation, ce qui permet un contrôle de position fin du faisceau d'électrons. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6490LV est un puissant microscope électronique à balayage conçu pour des applications d'imagerie et de spectroscopie de haute précision, ultra haute résolution. Il dispose d'une conception polyvalente à double faisceau, d'une variété de détecteurs puissants, d'un étage d'échantillonnage entièrement motorisé, d'une gamme de lentilles objectives et d'une pompe à vide pour un traitement efficace des échantillons. Le logiciel intégré le rend facile à utiliser et offre une large gamme de paramètres pour personnaliser les performances d'imagerie ou de spectroscopie selon les besoins exacts de l'utilisateur.
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