Occasion JEOL JSM 6500F #293604703 à vendre en France

ID: 293604703
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6500F est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM), conçu pour l'imagerie et l'analyse de pointe. Offrant des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution, il peut être utilisé pour une grande variété d'applications de caractérisation des matériaux, de la recherche sur les matériaux et l'analyse des défaillances à l'analyse des dispositifs semi-conducteurs, le contrôle des processus et la préparation des échantillons. JEOL JSM-6500 F permet d'observer des objets jusqu'à des résolutions nanométriques, avec un changeur d'échantillon automatisé pour une manipulation complète de l'échantillon. Le microscope est conçu pour une utilisation facile, avec des fonctions automatisées, un étage commandé par joystick, et un balayage à grande vitesse. Il est équipé d'une optique haute performance, offrant des caractéristiques d'imagerie de haute précision et de réduction dynamique du bruit. Le détecteur est optimisé pour correspondre à la gamme complète de capacités, permettant à l'utilisateur d'obtenir un excellent contraste et la résolution. JSM 6500F est également livré avec une gamme complète de capacités analytiques, y compris la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS) pour l'analyse élémentaire. Ces deux techniques permettent une cartographie élémentaire rapide et fiable avec une grande précision. JSM-6500 F peut également être utilisé pour l'imagerie aux rayons X et pour la mesure automatique des grains, avec le choix minutieux des énergies de faisceau et de l'intelligence de détection pour assurer une précision et une répétabilité maximales. JEOL JSM 6500F offre des capacités de contrôle avancées, telles que le contrôle automatisé des fonctions de microscope et de détecteur, et une fonction d'assistance automatisée du signal pour fournir une amélioration supplémentaire des résultats d'analyse. Le microscope dispose également de capacités avancées d'acquisition et d'analyse de données, permettant à l'utilisateur d'avoir un contrôle complet sur la zone d'analyse, les paramètres, les signaux et la collecte de données. Grâce à la combinaison de la haute résolution, des fonctionnalités automatisées, et le large éventail de capacités analytiques, JEOL JSM-6500 F est l'outil parfait pour une variété de besoins de recherche et de laboratoire.
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