Occasion JEOL JSM 6500F #293625725 à vendre en France

JEOL JSM 6500F est un microscope électronique à balayage haute puissance (SEM) utilisé pour des applications d'imagerie académique et industrielle. C'est un instrument de classe mondiale avec une résolution de 1 nanomètre et des capacités de balayage à grande vitesse. JEOL JSM-6500 F est alimenté par une structure de colonne optique électronique qui comprend un canon à électrons de type EC-CS, qui fournit des images SEM haute résolution, et un correcteur d'aberration breveté JEOL qui améliore la qualité de l'image, tout en réduisant les dommages de rayonnement sur les échantillons d'imagerie. JSM 6500F est également livré avec un détecteur de spectroscopie X à dispersion d'énergie (XEDS) et un équipement de vide propriétaire JEOL. Le détecteur XEDS offre une variété d'éléments et d'énergies, permettant d'analyser des éléments d'échantillons tels que le carbone et l'azote. En combinaison avec le système de vide, JSM-6500 F maintient en toute sécurité un degré élevé de vide tout au long du balayage et de l'analyse. JEOL JSM 6500F a un grand champ de vision, de 8 x 10 mm jusqu'à 40 x 40 mm, et peut représenter des échantillons à la fois grands et petits. L'optique électronique combinée et l'unité de balayage permettent à JEOL JSM-6500 F de capturer des images à grande échelle à haute résolution, jusqu'à 1 nanomètre. Cette machine combinée peut être utilisée pour mesurer et analyser la structure de presque n'importe quel matériau. En outre, JSM 6500F est équipé d'une suite de traitement d'image numérique pour améliorer la clarté de l'image, accéder aux filtres de bruit, et la luminosité et le contraste pour l'imagerie spécialisée. Pour les utilisateurs effectuant des applications spécialisées, JSM-6500 F peut être équipé d'une variété de composants auxiliaires. Cela comprend un outil de filtrage de l'énergie pour ajuster l'énergie contenue dans le faisceau d'électrons, un actif d'acquisition automatique d'image (AIA) multimodal qui peut intégrer plusieurs modes d'imagerie, des détecteurs STEM et SEM, et un étage d'échantillonnage automatisé pour faciliter le placement précis de l'échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6500F est un SEM puissant, fiable et polyvalent offrant un haut degré de résolution, une excellente qualité d'image et une large gamme de fonctionnalités. Avec sa vaste gamme d'options d'imagerie, il offre une excellente plate-forme pour la recherche avancée, les applications industrielles et éducatives.