Occasion JEOL JSM 6500F #293727771 à vendre en France

ID: 293727771
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6500F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM). Conçu pour des applications à large portée telles que la recherche biomédicale, la science des matériaux et l'analyse de surface, il est doté d'un canon à émission de champ (FEG) pour une résolution inégalée, même avec des grossissements élevés. JEOL JSM-6500 F a une tension d'accélération de 0,5 à 30 KV et un grossissement maximal de 200,000x. Ceci fournit un détail exceptionnel pour l'imagerie d'échantillons avec un haut degré de précision. Le microscope est également équipé d'un canon à émission de champ Schottky de haute qualité qui permet des performances rapides et peu bruyantes à des grossissements élevés. Le microscope est équipé d'un système d'imagerie numérique, qui comprend une caméra CCD haute résolution et un logiciel de traitement d'image compatible PC. Cela permet aux utilisateurs de capturer, d'afficher et d'analyser avec précision les données du microscope électronique à balayage. Le logiciel de traitement d'images permet également aux utilisateurs de créer une variété d'images numériques. JSM 6500F dispose également de capacités d'analyse avancées, y compris ELS (Energy Loss Spectroscopy) et EDX (Energy Dispersive X-ray analysis). L'ELS permet d'identifier les éléments d'un échantillon en analysant la perte d'énergie des électrons lors du passage dans l'échantillon, tandis que l'EDX analyse les rayons X secondaires pour déterminer l'identité des éléments présents dans l'échantillon. Ces caractéristiques permettent une variété d'analyses élémentaires, chimiques et structurelles de l'échantillon. JSM-6500 F offre des fonctionnalités conviviales avancées telles qu'une interface utilisateur à écran tactile, un fonctionnement automatique sous vide et une pompe à vide à longue durée de vie, permettant des périodes de fonctionnement prolongées. Le microscope est également équipé d'un contrôle d'étage automatisé, qui permet un positionnement précis des échantillons. JEOL JSM 6500F est un SEM fiable et performant qui offre des capacités d'imagerie exceptionnelles à des fins de recherche variées. Grâce à ses caractéristiques de pointe, il peut être utilisé dans un large éventail d'applications de recherche scientifique et médicale.
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