Occasion JEOL JSM 6500F #9180119 à vendre en France

JEOL JSM 6500F est un type de microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour observer une gamme d'échantillons à l'échelle nanométrique. Il offre une imagerie haute résolution, une analyse élémentaire et chimique des échantillons, ainsi qu'une gamme de caractéristiques pour l'imagerie haute et faible grossissement. JEOL JSM-6500 F fonctionne à la fois en mode à pression variable (VP) et en mode à vide élevé (HV), ce qui en fait un instrument polyvalent pour l'imagerie à basse et haute résolution. Sa fonction VP permet de surveiller la surface de l'échantillon sous vide et élimine la nécessité d'un système de cryo-pompage, améliorant ainsi la préparation de l'échantillon. Il est également équipé d'un filtre de bruit environnemental qui réduit les signaux non scientifiques, donnant aux utilisateurs un aperçu plus clair de la topographie de l'échantillon. En mode imagerie, JSM 6500F peut agrandir jusqu'à 200 000 x, offrant des détails précis sur la structure d'un échantillon. Il facilite également la détection des caractéristiques de surface à faible grossissement, permettant à l'utilisateur d'identifier d'éventuelles anomalies. Outre les capacités d'imagerie, le microscope est équipé de détecteurs spécifiques qui peuvent effectuer une analyse chimique ou élémentaire d'un échantillon à l'aide d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffuseurs et de rayons X. JSM-6500 F est également livré avec une gamme de fonctions de stabilisation du signal telles que des circuits à faible bruit pour une résolution optimale et un rapport signal sur bruit, ainsi qu'un amplificateur multi-canaux pour les mesures de surface de l'échantillon. En outre, la portée utilise une technologie d'optimisation d'image automatisée qui lui permet d'optimiser précisément le contraste d'image pour différents échantillons. Ce SEM est également équipé d'un module injecteur de gaz pour fournir un flux doux de gaz inerte tel que l'argon ou l'azote à l'échantillon pour une meilleure résolution. Son détecteur d'électrons secondaire dans la lentille permet également d'améliorer les résultats d'imagerie et de haute résolution latérale. Pour des raisons de commodité opérationnelle, JEOL JSM 6500F est exploité via une interface graphique contrôlée par ordinateur. Son interface tactile peut être utilisée pour ajuster des paramètres de configuration tels que le courant du faisceau d'électrons, la tension d'accélération et la focalisation. Il comprend également une gamme d'outils de réglage d'image tels que la luminosité, le contraste, la netteté et la saturation, permettant aux utilisateurs de personnaliser les images à leurs besoins. Ce microscope électronique à balayage est un instrument polyvalent et fiable pour l'observation et l'analyse de matériaux fluorescents, de polymères et d'échantillons biologiques. Avec sa résolution supérieure, sa technologie d'imagerie avancée et son interface tactile pratique, JEOL JSM-6500 F est un instrument idéal pour diverses applications en laboratoire.