Occasion JEOL JSM 6510 #293601626 à vendre en France

JEOL JSM 6510 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse haute résolution. JSM 6510 utilise une colonne électronique haute performance pour une imagerie de qualité et une tension d'accélération plus élevée (jusqu'à 100kV). Ce canon à émission de haute puissance en champ froid (FEG) avec une petite taille de tache, une large distance de travail et une faible divergence de faisceau d'électrons, permet une imagerie et des mesures précises. JEOL JSM 6510 dispose également d'un détecteur d'électrons secondaire tridimensionnel dans la lentille qui minimise le risque de bruit de signal dû à l'émission d'électrons parasites. De plus, le 6510 dispose d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés dans les lentilles qui permet de créer une double image de détecteur pour analyser la topographie et la composition chimique en une seule acquisition. La 6510 dispose également d'une gamme de fonctionnalités conviviales pour faciliter le flux de travail le plus efficace. Par exemple, l'étage motorisé pour les grands échantillons permet un positionnement rapide et précis des étages pour l'imagerie et l'analyse automatisée des échantillons. La capacité de microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) compatible avec JSM 6510 permet une imagerie de contraste Z haute résolution et une cartographie élémentaire. De plus, le mode d'imagerie en champ lumineux à fort contraste facilite l'observation des plans cristallographiques et des microstructures de l'échantillon avec une grande précision bilatérale. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6510 facilite une plate-forme analytique simple et précise pour l'imagerie et l'analyse avancées. Cela comprend l'imagerie haute résolution et l'analyse technique, l'analyse chimique et la caractérisation des matériaux. En outre, la fonction de balayage « Gallium » de la 6510 permet une « correction d'aberration chromatique » avec des capacités de traitement d'image assistées par ordinateur, ce qui en fait un choix idéal pour l'observation détaillée, ainsi que la nano-analyse quantitative.