Occasion JEOL JSM 6510 #293656752 à vendre en France

JEOL JSM 6510 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une imagerie et une analyse ultra haute résolution d'une large gamme de spécimens. L'équipement dispose d'une large gamme de capacités allant de l'imagerie basse pression à l'analyse élémentaire en vrac. Le JSM 6510 utilise une seule source d'électrons d'émission de champ de grande surface, capable de produire des faisceaux d'une largeur inférieure à 0,2 nanomètres (nm). Ce petit diamètre de faisceau permet l'imagerie et l'analyse de grossissement ultra-élevé, capable de résoudre des caractéristiques aussi petites que 0,4 nm. La chambre à vide prévient les interférences des molécules d'air, fournissant des images nettes et claires avec une distorsion minimale. JEOL JSM 6510 dispose d'une large gamme de détecteurs pour mesurer les électrons secondaires ou rétrodiffusés (ESB), les électrons secondaires (SE), la charge réfléchie et les électrons transmis (TE). Le détecteur ESB est très sensible et efficace pour produire des images de haute qualité, tandis que le détecteur SE est plus sensible aux caractéristiques de surface et à la structure fine. Les détecteurs de charge réfléchie et de TE peuvent être utilisés pour la cartographie élémentaire non destructive. JSM 6510 est équipé d'une suite complète de logiciels et de matériel pour contrôler le faisceau, gérer les données d'image, et effectuer des modifications complexes pour acquérir des images à la résolution la plus élevée possible. Les capacités automatisées de génération et d'analyse d'images du logiciel, associées aux contrôles matériels flexibles, rendent le système facile et intuitif à apprendre et à utiliser. Le JSM comprend également un changeur automatique de spécimen, qui permet une inspection rapide et facile de plusieurs spécimens. Cela aide à maximiser le flux de travail et le débit. De plus, l'appareil peut être utilisé dans divers environnements, de l'imagerie sous vide à l'imagerie haute pression. La machine de commande est intrinsèquement sûre, avec une conception sans faille pour assurer une sécurité maximale pour les chercheurs. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6510 est un SEM puissant et polyvalent, conçu pour fournir une imagerie et une analyse haute résolution dans un large éventail d'environnements et de types d'échantillons. Sa gamme complète d'outils de gestion logicielle et matérielle le rend facile à utiliser et très efficace, idéal pour tout laboratoire de recherche.