Occasion JEOL JSM 6510 #293758764 à vendre en France

JEOL JSM 6510 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie et d'analyse très avancé utilisé pour obtenir une analyse à haute résolution des échantillons à l'échelle nanométrique ou atomique. Il dispose d'une grande variété de capacités d'imagerie avancées, qui permettent aux utilisateurs de caractériser avec précision une variété de spécimens avec facilité. JSM 6510 est équipé d'un pistolet électronique à émission de champ SIG, qui fournit une imagerie extra basse tension afin d'obtenir le plus haut niveau de détail sans endommager l'échantillon d'électrons de haute énergie. Le microscope utilise un canon à émission de champ Cs à basse tension amélioré (FEG) qui utilise 3.4kV to 20kV et a une résolution de 0,2 nm. Il dispose également d'un étage motorisé 3 axes et de deux boutons de focalisation motorisés différents, ce qui permet aux utilisateurs de se concentrer sur l'échantillon avec précision et un léger réglage. JEOL JSM 6510 propose également un système de capture d'image composé d'une caméra CCD de 14 mégapixels. Cet appareil produit jusqu'à 14 mégapixels d'images et comprend un zoom optique 3x, un zoom numérique 6.3x et un mode curseur couleur 8x. Cela permet aux utilisateurs de produire des images détaillées et précises pour une analyse plus approfondie. JSM 6510 utilise plusieurs techniques d'analyse pour examiner l'échantillon en détail. Il s'agit notamment de la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse d'éléments, de la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) pour les études de diffraction et de recristallisation, et de la cathodoluminescence (CL) pour l'imagerie et l'analyse de la luminescence à partir d'échantillons. Le microscope fournit également un certain nombre de capacités micrographiques supplémentaires telles que l'imagerie électronique secondaire (SEI), la spectroscopie électronique secondaire et l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI). JEOL JSM 6510 est un outil d'imagerie et d'analyse très polyvalent conçu pour fournir des images précises et détaillées de spécimens dans une variété d'applications de recherche. Ses caractéristiques avancées et ses capacités analytiques fournissent des résultats détaillés pour aider les chercheurs à mieux comprendre leurs matériaux d'échantillonnage.