Occasion JEOL JSM 6510 #9184193 à vendre en France
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Vendu
ID: 9184193
Style Vintage: 2012
Scanning electron microscope (SEM)
Tungsten filament
Includes:
Standard recipe
Stigmator memory
Dual live image
Full size image display
Pseudo color
Digital zoom
Dual magnification
Measurement
Auto image archiving
JED-2300 EDS (JSM-6510LA and JSM-6510A)
Resolution HV mode: 3.0 nm (30 kV), 8nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
LV Mode: 4.0 nm (30 kV) (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Magnification: 5 x 300,000 (on 128 mm x 96 mm image size)
Preset magnifications: (5) Steps
Custom recipe:
Operation conditions:
Optics
Image mode
LV Pressure
Image mode:
Secondary electron image
REF Image
Composition (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Topography (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Shadowed (JSM-6510LA and JSM-6510LV)
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun: Automated, manual override
Condenser lens: Zoom condenser lens
Objective lens: Super conical objective lens
Objective lens apertures: (3) Stages, XY fine adjustable
Electrical image shift: ± 50 μm (WD = 10 mm)
Auto functions: Focus, brightness, contrast, stigmator
Eucentric large-specimen stage:
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 mm to 48 mm
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Reference image (navigator): (4) Images
Maximum specimen: 150 mm diameter
PC: IBM PC/AT Compatible
OS: Windows 7
Monitor: 19" LCD
Frame store: 640 x 480, 1280 x 960, 2560 x 1920, 5120 x 3340
Multi image display:
(2) Images
(4) Images
Network: Ethernet
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Fully automated pumping system:
DP1(Diffusion pump)
RP1(Dough pump)
2012 vintage.
JEOL JSM 6510 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la caractérisation à haute résolution et l'imagerie. Il est équipé de la dernière technologie éprouvée sur le terrain pour fournir une imagerie de haute qualité et un débit accru. Avec un grand champ de vision (FOV) et une profondeur de champ accrue (DOF), JSM 6510 est capable de résoudre les structures fines dans les échantillons. JEOL JSM 6510 a une capacité d'imagerie supérieure et un rapport signal/bruit amélioré grâce à sa colonne de pointe. Il est équipé d'une lentille à champ plat pour l'imagerie uniforme et haute définition, créant des images à haute résolution, contraste élevé et haute résolution spatiale. Son détecteur secondaire d'électrons (SED) est équipé d'un détecteur haute sensibilité basse tension et de capacités d'imagerie du spectre énergétique, permettant aux utilisateurs d'effectuer des tâches analytiques avec une précision améliorée. Le JSM 6510 offre une flexibilité grâce à la tension d'accélération multiple, la détection d'électrons et l'imagerie, ce qui le rend applicable à une gamme d'échantillons et de tâches analytiques. En outre, il est équipé d'un système automatisé de montage d'échantillons et de détection automatique d'échantillons pour des résultats précis et reproductibles. JEOL JSM 6510 offre une variété de fonctionnalités supplémentaires telles que la stéréoscopie basculante, la tomographie, l'inspection et l'imagerie 3D pour fournir un aperçu complet de l'échantillon. De plus, JSM 6510 utilise une étape de rastering en colonne, permettant aux utilisateurs d'affiner leurs images en sélectionnant leur zone d'imagerie préférée et des paramètres tels que l'inclinaison, la résolution, etc.. JEOL JSM 6510 est également conçu avec une plate-forme logicielle ouverte, offrant aux utilisateurs la flexibilité de personnaliser leur procédure d'imagerie et d'ajouter des fonctionnalités supplémentaires telles que des routines automatisées. JSM 6510 est un outil idéal pour un large éventail de tâches de caractérisation et d'imagerie, y compris biologiques, environnementales, matériaux, et d'autres applications analytiques. Avec sa combinaison de capacités d'imagerie avancées et de fonctionnalités conviviales, JEOL JSM 6510 peut fournir des performances d'imagerie supérieures.
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