Occasion JEOL JSM 6510 #9197947 à vendre en France
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Vendu
ID: 9197947
Scanning electron microscope (SEM)
With OXFORD Inca EDS
Resolution HV mode: 3.0 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
LV Mode: 4.0 nm (30 kV)
Magnification: x 5 to x 300,000 (on 128 mm x 96 mm image size)
5-Step preset magnification
Standard recipe
Custom recipe:
Operation conditions:
Optics
LV Pressure
Specimen stage
Image mode:
Secondary electron image
REF Image
Composition
Topography
Shadowed
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun: Fully automated, manual override
Condenser lens: Zoom condenser lens
Objective lens: Super conical objective lens
Objective lens apertures: (3) Stages, XY fine adjustable
Stigmator memory
Electrical image: Shift ± 50 μm (WD = 10 mm)
Auto functions:
Focus
brightness
contrast
stigmator
Specimen stage: Eucentric large-specimen stage
X: 80 mm, Y: 40 mm, Z: 5 mm to 48 mm,
Tilt: −10° to 90°
Rotation: 360°
Specimen exchange: Draw out the stage
Maximum specimen: 150 mm Diameter
PC: IBM PC/AT Compatible
Operating system: Windows 7
Monitor: 19" LCD, 1 or 2*2
Frame store: 640 x 480, 1,280 x 960, 2,560 x 1,920, 5,120 x 3,340
Dual live image
Full size image display
Pseudo color
Multi image display: (2) Images, (4) Images
Digital zoom
Dual magnification
Network: Ethernet
Measurement
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Auto image archiving
Pumping system: Fully automated, DP: 1, RP: 1 or 2*1
Switching vacuum mode: Through the menu
LV Pressure: 10 to 270 Pa
JED-2300 EDS*2
Principal options:
Back scattered electron detector
Low vacuum secondary electron detector
Energy dispersive X-ray analyzer (EDS)
Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS)
EBSD
Stage navigation system
Airlock chamber
Chamber scope
Operation keyboard
LaB6 Electron gun
Operation console: 750 mm wide, 900 mm wide
Motor controlled stage: 2 Axes, 3 Axes, 5 Axes
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Currently installed.
JEOL JSM 6510 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) conçu pour la recherche et les applications industrielles. L'instrument est équipé d'une source d'électrons haute performance pour produire des images avec une résolution de 4,5 nanomètres pour les balayages à basse et haute tension. Il comprend également des détecteurs de champ inverse et lumineux pour capturer les électrons secondaires et rétrodiffusés permettant la production d'images 3D haute résolution. JSM 6510 est capable d'une grande variété de techniques d'imagerie embarquées, y compris le traitement des images en deux et trois dimensions, l'analyse des structures cristallines, l'analyse des profils linéaires, la cartographie des topographies de surface et l'identification de la composition. En outre, l'utilisateur peut configurer un large éventail d'opérations et de paramètres pour personnaliser les performances de l'équipement à leur application spécifique. L'étage d'échantillon est capable d'une rotation fine continue de 0,002 ° et permet également des mosaïques automatiques à large champ, la correction automatique de la dérive et l'alignement automatique des points et des clic. Avec une distance de travail standard de 10 mm, l'étage a une gamme complète de mouvement avec plus d'un millimètre de déplacement dans trois directions orthogonales. JEOL JSM 6510 est conçu pour un fonctionnement efficace de l'utilisateur. L'instrument est construit avec une interface utilisateur ergonomique et comprend un affichage couleur de 19 pouces. Un ordinateur de bord prend également en charge une variété de protocoles de réseautage, y compris USB et Ethernet, pour la communication avec les PC. JSM 6510 dispose d'un équipement d'imagerie sophistiqué qui comprend une colonne SEM basse énergie, un système de microfocage, et un équilibre de contraste et de luminosité réglable. Il est également livré avec une unité de filtrage d'énergie et une machine d'analyse de rayons X dispersive d'énergie, permettant à l'utilisateur d'étudier la composition, d'effectuer une analyse qualitative de phase et de cartographier la distribution des éléments dans l'échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6510 est un SEM avancé et performant qui est capable de produire une excellente qualité d'image pour une variété d'applications. Il est conçu pour une utilisation efficace par des chercheurs expérimentés et peut être adapté pour répondre aux besoins de la caractérisation des échantillons industriels.
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