Occasion JEOL JSM 6510LA #293607337 à vendre en France

JEOL JSM 6510LA est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de fournir une imagerie et une analyse à haute résolution. Ce type de dispositif est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la métallographie et l'électronique pour fournir des informations de surface et de sous-sol sur des échantillons. JSM 6510LA est équipé d'un large éventail de caractéristiques qui lui permettent de produire des images précises et détaillées d'un large éventail de matériaux. Cela comprend une source d'électrons Schottky qui est capable de générer une très petite taille de tache d'électrons, ce qui donne des images à haute résolution. De plus, le SEM est également équipé d'un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille qui est capable d'observer la morphologie tridimensionnelle de la surface d'un échantillon et de l'afficher directement sur le moniteur. JEOL JSM 6510LA est équipé d'une gamme de fonctionnalités automatisées qui le rendent facile à utiliser et à analyser sans entrée utilisateur importante. Ces caractéristiques comprennent un système automatisé de couture d'images, un système automatisé d'alignement de spécimens, un détecteur d'électrons rétrodiffuseur automatisé et un système automatisé de mise à l'échelle d'images. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision les images sans avoir besoin d'entrer manuellement des coordonnées ou de surveiller les orientations des échantillons. En plus des fonctionnalités automatisées, JSM 6510LA est également équipé d'une gamme de commandes manuelles qui permettent aux utilisateurs de régler le réglage du canon à électrons. Cela inclut les paramètres pour la tension d'accélération, la taille des taches, la luminosité et l'astigmatisme, entre autres. Les commandes manuelles permettent à l'utilisateur de contrôler avec précision les paramètres du faisceau d'électrons pour produire des images adaptées à leurs besoins spécifiques. JEOL JSM 6510LA est équipé d'un certain nombre de capacités analytiques, y compris la spectroscopie dispersive à rayons X (XEDS), la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) et l'analyse par rayons X dispersive d'énergie (EDAX). Ces techniques d'analyse permettent aux utilisateurs de mieux comprendre la composition structurelle et chimique d'un échantillon donné, ce qui permet de prendre des décisions plus éclairées. JSM 6510LA est un microscope électronique à balayage fiable et puissant qui est capable de produire des images détaillées et précises d'un large éventail de matériaux. Alimenté par la combinaison de fonctions automatisées et de contrôles manuels, ce SEM facilite l'analyse précise des caractéristiques superficielles et souterraines d'un échantillon, ce qui en fait un outil précieux dans de nombreuses applications scientifiques et industrielles.