Occasion JEOL JSM 6510LV #293629371 à vendre en France

JEOL JSM 6510LV est un microscope électronique à balayage à pression variable (VP-SEM) qui offre une imagerie d'échantillon supérieure avec une haute résolution et une profondeur de champ supérieure. La lentille objective de l'instrument est conçue pour une utilisation avec une large gamme d'énergies d'électrons pour l'imagerie à différents grossissements. Cela permet de prendre des images à différentes profondeurs et résolutions. Le JSM 6510LV est équipé d'un canon à électrons ultra-haute énergie de 20 kV à 200 kV, d'une large gamme de filtres à colonnes et d'options de contrôle du canon, et d'une combinaison unique d'inclinaison et de rotation des colonnes pour permettre un alignement précis des échantillons et une qualité d'imagerie maximale. Le détecteur d'électrons à balayage environnemental intégré (ESED) offre des performances supérieures en combinaison avec les conditions de fonctionnement les plus sensibles. Cela permet à l'utilisateur d'obtenir la meilleure combinaison de résolution de particules et de sensibilité. JEOL JSM 6510LV propose également plusieurs modes d'imagerie, dont l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie en champ sombre et l'imagerie rétrodiffusée filtrée par l'énergie. Cela permet à l'utilisateur d'images de surfaces à différents angles et profondeurs, sans avoir besoin de préparation d'échantillons ou de revêtement. JSM 6510LV dispose d'une gamme impressionnante de caractéristiques, y compris des étages d'échantillons et de vide partiel, une chambre d'échantillons avec capacité de pompage différentiel, et la capacité d'images des échantillons jusqu'à 54 mm de diamètre. En outre, l'instrument dispose également d'un système d'autofocus en option, qui permet un contrôle précis de la focalisation et l'imagerie d'échantillons. JEOL JSM 6510LV offre une gamme avancée de fonctions de contrôle, telles qu'un outil d'autotille, un filtre à particules avec paramètres réglables, et un filtre de carte. L'instrument fournit également à l'utilisateur un accès à une gamme d'outils logiciels d'imagerie, y compris l'analyse avancée des particules, la comparaison d'images et la génération de rapports. JSM 6510LV est un instrument idéal pour un large éventail d'applications, y compris l'imagerie de nanomatériaux, la fabrication de semi-conducteurs, la recherche en biotechnologie et la criminalistique. Il offre des images supérieures, des capacités d'imagerie polyvalentes et est facile à utiliser et à entretenir. Toutes ces caractéristiques font de JEOL JSM 6510LV un microscope électronique à balayage supérieur.