Occasion JEOL JSM 6510LV #293630488 à vendre en France

JEOL JSM 6510LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument de microscopie spécialisé utilisé pour l'imagerie et l'analyse d'objets à une échelle de sous-microns. Cet instrument peut agrandir des spécimens jusqu'à 500000 fois sa taille réelle, ce qui le rend idéal pour révéler des structures complexes et faire des mesures de très petits objets. Le microscope a également la capacité de détecter et d'afficher les changements de potentiel, permettant une analyse matérielle à très haute résolution. JSM 6510LV a une colonne électronique conçue pour le mode à pression variable et à vide faible, avec un niveau de vide mesuré par une jauge de vide. Le faisceau d'électrons est optimisé à cinq réglages de tension différents. JEOL SEM utilise un appareil photo numérique haute résolution pour capturer et enregistrer des images en format numérique. Un moniteur haute résolution et une console d'écran tactile permettent à l'utilisateur d'interagir avec l'instrument, d'ajuster les paramètres de fonctionnement et d'accéder rapidement aux images stockées. Le constructeur a conçu JEOL JSM 6510LV pour les modes de fonctionnement à vide faible et élevé. Cela signifie que les échantillons environnementaux et biologiques peuvent être analysés sans soucis de contamination par les gaz atmosphériques. Le microscope dispose également d'un détecteur EDX, qui permet l'analyse élémentaire de l'échantillon. L'instrument est capable d'appliquer une gamme de détecteurs comprenant des électrons rétrodiffusés, des électrons transmis et des électrons secondaires, qui peuvent être utilisés pour révéler différents détails structurels et fournir diverses informations analytiques. Le microscope électronique à balayage JEOL offre une résolution d'image exceptionnelle avec son système de focalisation automatique en colonne et son stabilisateur haute performance, donnant des images très détaillées et claires. De plus, des techniques d'imagerie avancées telles que l'analyse SEMEBSD, l'analyse SEET et la mesure SED sont disponibles pour aider les chercheurs à obtenir les résultats les plus utiles de leurs expériences. JEOL SEM dispose également d'un modèle et d'un système d'étapes contrôlés par ordinateur permettant la visualisation et l'analyse automatisées des échantillons. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage JSM 6510LV est un instrument extrêmement polyvalent capable de révéler des détails structurels jusqu'à l'échelle du nanomètre. Sa capacité à fournir des informations sur le potentiel ainsi que ses techniques d'analyse en font un outil inestimable pour un certain nombre d'applications de recherche. De plus, son interface conviviale, son imagerie haute résolution et son fonctionnement stable permettent un fonctionnement sans effort et précis.