Occasion JEOL JSM 6510LV #293661215 à vendre en France

JEOL JSM 6510LV est un type de microscope électronique à balayage (SEM). Le SEM adopte la dernière technologie pour offrir des performances supérieures, une plus grande facilité d'utilisation et une plus grande capacité. Ce dispositif est conçu pour offrir aux utilisateurs les capacités d'imagerie nanométrique nécessaires à l'observation des caractéristiques nanométriques d'un échantillon. Ce microscope dispose d'une chambre de travail à pression variable, permettant l'observation sous faible vide (jusqu'à 0,3 Pa) ou dans des conditions atmosphériques et assurant une protection contre la préparation de l'échantillon. Sa nouvelle source d'électrons d'émission de champ Schottky et son canon d'émission de champ de gaz permettent une imagerie haute résolution avec un minimum de préparation d'échantillons. JSM 6510LV comprend également un détecteur de rayons X dispersif d'énergie qui permet à l'utilisateur de mesurer des structures semi-conductrices et d'autres composants minuscules. Le spectromètre est également capable de faire des évaluations qualitatives et quantitatives de chaque élément de l'échantillon. La conception conviviale du microscope permet une large gamme d'applications. Une fenêtre d'entrée directe permet à l'utilisateur d'entrer les paramètres du processus d'acquisition d'image, tandis que le bouton une touche fournit un flux de travail simple mais efficace. Le microscope dispose également d'un système de contrôle informatique qui permet à l'utilisateur de définir divers paramètres sans avoir besoin d'une entrée manuelle. JEOL JSM 6510LV est équipé d'un système de caméra numérique avancé. Les images peuvent être stockées sous forme de fichiers JPEG gris ou couleur 16 bits. Ce microscope peut également être utilisé pour le transfert automatique d'image avec un câble USB ou Ethernet. Pour améliorer les performances du microscope, JSM 6510LV est livré avec un détecteur de rayons alpha avec contraste d'image réglable, un système de compensation des vibrations d'étage avec des étages X-Y-Z motorisés pour la facilité de fonctionnement, et un mécanisme de focalisation motorisé pour l'imagerie précise des échantillons. Ce microscope très avancé est un choix idéal pour les chercheurs à la recherche d'un SEM avancé. Sa technologie et ses caractéristiques les plus récentes en font un choix idéal pour un large éventail d'applications, y compris l'imagerie à l'échelle nanométrique, les structures semi-conductrices, l'analyse de micro-éléments et d'autres domaines de recherche.