Occasion JEOL JSM 6510LV #293671225 à vendre en France

JEOL JSM 6510LV est un microscope électronique à balayage (SEM) de classe mondiale qui supporte de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse. Il utilise un équipement de spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) pour fournir des performances supérieures dans l'imagerie et les mesures microanalytiques. Le système offre des images haute résolution dans les modes à vide élevé et à vide faible. Le microscope est équipé d'une chambre à vide ultra-haute qui peut atteindre des niveaux meilleurs que 5 × 10-6 Torr. Ce niveau de vide améliore considérablement la résolution de contraste et les détails de l'image lors de l'utilisation d'un mode à vide élevé. Le mode basse dépression utilise un gaz neutre respectueux de l'environnement pour réduire le courant du faisceau. L'unité EDS est composée d'une bobine de recherche montée sur la nappe qui s'étend jusqu'à 8mm. Il dispose d'une mesure ultra haute résolution jusqu'à 0,02 % absolu pour un seul pixel. JSM 6510LV dispose d'une machine d'imagerie à pression variable avancée. Cette fonction permet de régler automatiquement la pression de balayage pour une imagerie optimale jusqu'à 5.10-3 Torr. Le microscope utilise également un détecteur de rétrodiffusion haute résolution (BSD) pour mesurer avec précision les échantillons avec un contraste Z élevé. Le BSD utilise un filtre à oxyde de bore à quatre éléments qui produit des images de qualité en réduisant les niveaux de bruit. De plus, le PAIS (Outil d'analyse et d'imagerie structurées) fournit une imagerie et une microanalyse de pointe grâce à l'application de modèles de classification. JEOL JSM 6510LV est également conçu pour minimiser les coûts d'entretien. Il est doté d'un système de joint torique économe en matériaux qui prévient la contamination et réduit le besoin de nettoyage fréquent. Le modèle de contrôle environnemental intégré (ECS) garantit que le microscope fonctionne dans des conditions optimales pour des performances optimales. Un équipement de refroidissement piloté par ordinateur maintient le niveau de bruit, ce qui permet de faibles niveaux de vibration et de régulation de la température. Enfin, un serveur de base de données intégré aide à gérer les paramètres du microscope pour un accès facile. Dans l'ensemble, JSM 6510LV est un SEM avancé qui produit des résultats supérieurs dans les modes à vide élevé et à vide faible. Il convient bien aux chercheurs qui ont besoin d'images claires et détaillées ainsi que de mesures microanalytiques à haute résolution. De plus, la conception compatible avec la maintenance permet de réduire les coûts tout en assurant des performances optimales.