Occasion JEOL JSM 6600 #177690 à vendre en France

JEOL JSM 6600 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument puissant et polyvalent qui peut être utilisé pour une variété de matériaux et d'applications. Ce microscope est équipé d'un analyseur de rayons X dispersif d'énergie et d'un canon à électrons qui fournit des performances supérieures dans l'imagerie, l'analyse chimique et d'autres applications. Le système utilise la dernière génération de cathodes d'émission de champ qui permettent le balayage rapide et précis de l'échantillon. Cette technologie garantit une résolution d'image exceptionnelle tout en permettant un fort grossissement jusqu'à 30.000x. L'instrument dispose également d'un détecteur qui a une grande profondeur de champ et une grande sensibilité pour détecter un large éventail d'éléments présents dans l'échantillon. Le SEM est équipé d'un étage de balayage motorisé et d'un logiciel permettant aux opérateurs de personnaliser leurs réglages pour un spécimen donné. Cela inclut les réglages de la vitesse de l'étage, le contrôle du temps pour les balayages séquentiels, les réglages de grossissement et les réglages pour le courant du faisceau d'électrons et la tension d'accélération. JEOL JSM-6600 est également équipé d'un détecteur électronique rétrodiffusé automatisé pour l'utilisation dans les images de matériaux non conducteurs. Cet instrument utilise un algorithme de numérisation piloté par ordinateur pour suivre les détails fins de la distribution élémentaire dans l'échantillon. En outre, JSM 6600 dispose de fonctionnalités avancées telles que l'imagerie annulaire en champ sombre, l'imagerie cathodoluminescence, et un détecteur de sonde de particules pour détecter les particules dans l'échantillon. Cet instrument peut également être utilisé pour créer des images tridimensionnelles de l'échantillon. Le système peut également être utilisé conjointement avec d'autres instruments pour réaliser une analyse plus complète. Cela comprend l'utilisation de la microscopie électronique à transmission à balayage, la spectroscopie de perte d'énergie électronique, la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie et la diffraction d'électrons à faible énergie. JSM-6600 est un microscope électronique à balayage polyvalent capable de fournir une résolution d'image supérieure ainsi qu'une analyse chimique des échantillons. Cet instrument haute performance est un excellent choix pour les applications avancées d'analyse des matériaux.