Occasion JEOL JSM 6600 #293824665 à vendre en France

ID: 293824665
Scanning Electron Microscope (SEM) IdFix Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) system X-Ray detector Convent image processing system Lens system: Condenser lens Objective lens Operating mode: SEM1 ECP EMP PSCN Specimen movement range: Direction (X, Y, Z): X: 160 mm Y: 160 mm Z: 31 mm Tilt: 0° to 60° Rotation: 360° Scan mode: Pic RD2 RD4 RDC LSP BUP SPT Power supply: 240 / 220 / 200 / 180 V, 50 / 60 Hz single phase, 6 kW.
JEOL JSM 6600 est un microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour fournir des performances supérieures, une facilité d'utilisation supérieure et une flexibilité supérieure pour des applications allant de l'observation de microstructures à des capacités analytiques avancées. JEOL JSM-6600 est équipé d'un canon à émission de champ froid (FEG) qui offre des images haute résolution avec un bruit de fond faible. Cela permet une analyse détaillée des matériaux présentant un contraste et une qualité d'image supérieurs. Le JSM 6600 dispose également d'un processeur de signal numérique à haut débit (DSP) pour l'acquisition de données et le traitement d'images, qui permet une acquisition d'images et une manipulation d'images plus rapides. JSM-6600 dispose également d'un système d'imagerie supérieur avec un dispositif intégré d'imagerie à transfert de charge en mode secondaire et en mode rétrodiffuseur. Cela fournit des images haute définition avec une large gamme de capacités de grossissement. Le système d'imagerie comprend également une variété de technologies d'amélioration du contraste qui permettent un contraste supérieur et une clarté d'image. JEOL JSM 6600 possède une gamme de capacités analytiques comprenant la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde (WDS) pour l'analyse élémentaire et chimique. Ces capacités permettent une analyse élémentaire et chimique et une cartographie des matériaux. JEOL JSM-6600 peut également être équipé d'une variété de porte-échantillons, y compris les porte-échantillons standard, les porte-échantillons cryo--et l'azote liquide, qui fournissent une gamme de techniques de manipulation des échantillons pour une variété d'applications. JSM 6600 est un outil technologiquement avancé, fiable et polyvalent pour l'analyse des matériaux et l'observation des microstructures. Ce SEM offre des performances supérieures, la facilité d'utilisation et la flexibilité, ce qui en fait un choix idéal pour une gamme d'applications dans diverses industries.
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