Occasion JEOL JSM 6600 #9107243 à vendre en France

JEOL JSM 6600
ID: 9107243
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6600 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une combinaison de capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse. Ce SEM intègre une chambre d'échantillonnage environnementale qui permet l'imagerie non destructive des échantillons et leur préparation en atmosphère contrôlée, avec des températures variant de 50 à 200 ºC. JEOL JSM-6600 est capable d'augmenter la résolution des images jusqu'à 100.000 fois, permettant la visualisation de caractéristiques nanométriques. En outre, ce SEM comprend un détecteur intégré de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour effectuer une cartographie et une analyse élémentaire in situ. Le JSM 6600 est alimenté par la technologie d'économie d'énergie GreenSTEM qui optimise le processus d'imagerie. Cette technologie est basée sur un détecteur haute performance qui est conçu pour réduire le temps de capture des images dans les zones de contraste élevé et qui se traduit par un fonctionnement convivial. Les données imagées peuvent être analysées et modifiées en temps réel directement sur l'écran, permettant le réglage des paramètres. JSM-6600 est un SEM haute spécification qui dispose d'un conducteur à faisceau rapide, d'une suite rotative numérique, d'un moniteur de position de focalisation à blanc et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés avancé. La conception du détecteur permet l'imagerie de contraste élevé des échantillons et une large gamme de tailles de spécimens. En outre, ce SEM haute résolution est équipé d'un passage sous vide dans la chambre, ce qui élimine la nécessité d'ouvrir la chambre lors de l'échange des instruments. Ce microscope fonctionne grâce à une interface conviviale qui fournit un flux de travail intuitif et permet d'enregistrer et de partager la configuration des paramètres SEM avec d'autres utilisateurs. Pour une flexibilité accrue, JEOL JSM 6600 est capable de fonctionner à la fois en mode vide et en mode air-environnement, ce qui permet l'imagerie d'échantillons nécessitant une atmosphère contrôlée. L'instrument est également équipé d'un système automatisé de détection de focalisation pour s'ajuster rapidement à une gamme d'échantillons. JEOL JSM-6600 est un système SEM complexe et polyvalent qui est équipé d'une gamme impressionnante de fonctionnalités et peut être utilisé dans des domaines allant du milieu universitaire à l'industrie. Grâce à ses capacités d'imagerie avancées et à sa conception économe en énergie, il est l'un des microscopes électroniques à balayage les plus puissants et les plus efficaces actuellement sur le marché.
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