Occasion JEOL JSM 6600 #9122948 à vendre en France

JEOL JSM 6600, un microscope électronique à balayage (SEM), est un appareil d'analyse avancé utilisé pour étudier les structures nanoscopiques et microscopiques de nombreux types de matériaux. C'est un instrument très efficace et fiable qui permet aux chercheurs de visualiser et d'analyser des structures qui sont normalement trop petites pour que l'œil nu puisse les observer, et d'identifier et de mesurer diverses propriétés physiques fournies par les signaux qu'il produit. JEOL JSM-6600 est un SEM ultra haute résolution qui utilise un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDX) pour fournir des informations de composition et un système monochromatique pour fournir des informations sur le contraste chimique et la topographie d'un échantillon. La conception très sophistiquée du SEM garantit également une grande sensibilité de 10nA jusqu'à 0.15nA, offrant une excellente détection des plus petites particules. Les capacités du SEM sont encore augmentées par la grande distance de travail de 130mm à 200mm, permettant à l'utilisateur d'observer de grands échantillons, tels que des plaquettes et des composants encombrants, ainsi que des étages de spécimen avec jusqu'à 400mm de diamètre. La résolution de ce SEM est également exceptionnelle, avec des grossissements aussi élevés que 350000X permettant à l'utilisateur d'observer des détails extrêmement fins dans l'échantillon, et un détecteur d'électrons secondaire assurant des images très détaillées. Il a également une large plage de tension d'accélération de 1 à 30kV, permettant de mener une variété de matériaux et d'expériences. La JSM 6600 contient également diverses caractéristiques de sécurité pour aider à prévenir les dommages à l'équipement et à l'opérateur, comme un interrupteur d'entretoisement de porte de sécurité et un système de grille de garde ionique qui réduit la charge et la condensation des molécules sur les échantillons. Le logiciel du SEM est convivial et les données peuvent être facilement transférées via un port USB. En conclusion, JSM-6600 est un instrument extrêmement précis qui fournit des images très détaillées des structures de surface, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche à l'échelle nanométrique dans des domaines tels que les sciences des matériaux, la microélectronique et la recherche biomédicale. Les caractéristiques de grossissement, de résolution, d'alimentation et de sécurité élevées garantissent que l'instrument répond aux exigences de nombreux chercheurs et fournit des résultats et des données précis et fiables.