Occasion JEOL JSM 6600 #9136256 à vendre en France
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ID: 9136256
Scanning electron microscope (SEM)
Digital camera
Wafer load lock
Denka lab6 cathodes with 10 to 15 spares
NORAN EDS
Spare parts:
(1) Extender: MP001569-01
(1) Extender: AP002139(00)
(1) Vacuum controller: AP001129-01
(1) MAG PWRAMP: 152048-1/1
(1) PS RGLTR CCT 1 SM151003
(1) CRT PAT: 1520048-1/1
(1) PA RGLTR CCT 2 1520048-1/1
(1) Specimen current amplifier type 103B
(1) PCSM-PCD40D: EP380131
(1) EVTH DETECTOR PMT
(14) Wehnelt assemblies: 804302090
(6) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090
(3) Wehnelt assemblies withLaB6 804302090
(2) Wehnelt assemblies with LaB6 804302090
(1) Wehnelt assembly with LaB6 804302090
(2) Anodes
(5) Tools
(1) Silicon wafer holder 8 1/4" W/5 50MM
(1) Silicon wafer holder 6 1/4" W/5 40MM
(2) Silicon wafer holder 5 1/4" W/5 25MM
Includes manual.
JEOL JSM 6600 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fonctionner dans des environnements de recherche. L'utilisation de ce dispositif permet au chercheur d'observer et d'analyser la structure d'une variété d'échantillons, allant des échantillons biologiques aux échantillons matériels. JEOL JSM-6600 fonctionne à une tension d'accélération comprise entre 0,1 et 30 kV, et un mode de vide ultra-élevé jusqu'à 4,5 x 10-7 Pa, ce qui lui donne la capacité de fonctionner avec des échantillons secs et humides. Ce microscope est équipé d'une variété d'optiques électroniques avancées, y compris un canon à émission de champ et une lentille de balayage de pièce polaire. Cela signifie que le faisceau peut être dirigé avec précision pour acquérir des images et recueillir des données de l'échantillon. La haute performance du JSM 6600 permet également une analyse plus précise des échantillons. Par exemple, la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) peut être utilisée pour effectuer une microanalyse élémentaire, permettant de mesurer la composition de surface des matériaux. Outre l'analyse élémentaire, le détecteur panchromatique et le détecteur d'images visibles (VID) peuvent être utilisés pour fournir au chercheur une image de l'échantillon en couleur. JSM-6600 est équipé d'une interface utilisateur à écran tactile, ce qui rend plus facile que jamais d'ajuster les réglages du microscope et d'explorer ses puissantes capacités. De plus, les procédures automatisées permettent à l'utilisateur de gagner du temps, étant donné que le microscope peut traiter plusieurs échantillons simultanément. Dans l'ensemble, la polyvalence et les capacités avancées de JEOL JSM 6600 en ont fait l'un des microscopes électroniques à balayage les plus demandés sur le marché. Il est capable de fournir des images de haute qualité et de mesurer avec précision la composition de l'échantillon, ce qui donne des résultats de recherche supérieurs.
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