Occasion JEOL JSM 6600F #293600174 à vendre en France

JEOL JSM 6600F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM). C'est un instrument polyvalent et puissant utilisé pour un large éventail d'applications dans les domaines de l'analyse des matériaux, de la nanotechnologie et d'autres domaines scientifiques et industriels. JEOL JSM-6600F utilise un canon à électrons à émission de champ (FEG) et favorise l'imagerie de petits échantillons à des résolutions sans précédent. Le FESEM fonctionne en deux modes d'imagerie ; électrons secondaires (SE) et électrons rétrodiffusés (ESB). Les électrons secondaires ont une faible profondeur de localisation de champ et représentent ainsi la surface d'un échantillon. Les électrons rétrodiffusés ont un plus grand libre chemin moyen et, par conséquent, fournissent un meilleur contraste et une imagerie de grossissement élevé du gros de l'échantillon. Les options d'imagerie SE et ESB permettent au chercheur d'imaginer avec beaucoup de détails les caractéristiques de surface et d'encombrement de l'échantillon. L'instrument est capable d'atteindre une résolution aussi faible que 1nm avec une plage de tension comprise entre 0-30kV, permettant l'imagerie de petites structures avec beaucoup de détails. JSM 6600F est complet avec des capacités intégrées d'automatisation de l'imagerie, y compris le contrôle de dose et l'optimisation de l'imagerie qui peuvent être utilisés pour assurer la précision de l'échantillon. Un porte-échantillon transparent aux électrons est sécurisé et placé dans le détecteur. Les accessoires d'imagerie sur JSM-6600F sont très avancés et personnalisables. Le système d'inclinaison permet l'imagerie parallèle des échantillons sous des angles de 0 à 90 degrés, et le système d'ouverture permet la limitation du faisceau et l'optimisation de la taille du faisceau. Parmi les autres options, mentionnons le chauffage à des températures allant de 0 à 150 degrés Celsius, le détecteur de désalignement qui détecte les écarts optiques dus à la déformation ou au mouvement de l'échantillon, et l'analyse automatisée qui permet un support de haute précision pour de nombreux types d'applications SEM. En résumé, JEOL JSM 6600F est un microscope électronique à balayage avancé et puissant. Il utilise des FEG avancés et les dernières options d'imagerie, permettant au chercheur d'imiter de petits échantillons avec des résolutions plus élevées que jamais. L'utilisateur a la possibilité de personnaliser les accessoires de l'instrument pour optimiser ses résultats d'imagerie. Les capacités robustes et polyvalentes de JEOL JSM-6600F en font un choix privilégié pour l'analyse des matériaux, la nanotechnologie et d'autres domaines scientifiques et industriels.