Occasion JEOL JSM 6600F #293757357 à vendre en France

JEOL JSM 6600F est un microscope électronique à balayage (SEM) doté d'une colonne électronique à balayage haute performance avec plusieurs chambres. Il offre des capacités d'imagerie et d'analyse de pointe. Le SEM est conçu pour permettre l'analyse de haute sensibilité et l'imagerie tridimensionnelle d'échantillons et d'objets sur un large éventail de grossissements. La colonne d'électrons dispose d'une chambre à vide ultra-haute et une résolution SEM réglable et la vitesse de l'étage, ce qui le rend adapté à une variété d'examens et d'analyses d'échantillons. JEOL JSM-6600F offre une compatibilité complète avec les systèmes SEM automatisés, tels que les systèmes autofocus, auto scan et SAS. Ses modes d'imagerie haute performance comprennent l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'imagerie électronique secondaire (SE), l'imagerie monochromatique et la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDX). L'optique électronique incidente comprend l'analyse instantanée, la cartographie rapide et le mode tache rapide qui permettent l'analyse rapide des échantillons et l'imagerie. Le détecteur EDS du SEM a une gamme dynamique de 1.000.000 cps et limite de détection élémentaire jusqu'à 1 ppm poids %. JSM 6600F offre une gamme d'options qui permettent aux utilisateurs d'adapter leur SEM à leurs exigences spécifiques - notamment les systèmes de régulation de la pression variable, de la dépression et de la température. Le microscope comprend également un échange automatisé d'échantillons, ce qui réduit le temps pris pour l'échange d'échantillons et assure l'intégrité de l'échantillon pendant le processus de transfert. Le SEM présente une conception respectueuse de l'environnement avec des caractéristiques telles qu'un mécanisme d'obturation latérale, une fermeture automatique d'obturateur et une enceinte à faible émission de particules. JSM-6600F comprend également une gamme complète de matériel et de logiciels pour l'optimisation des performances du système pour la répétabilité ultime et les résultats reproductibles. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6600F microscope électronique à balayage est conçu pour offrir les niveaux les plus élevés de précision, d'imagerie et de capacités analytiques, permettant aux utilisateurs d'exécuter leurs tâches SEM avec facilité et efficacité. Sa gamme de fonctionnalités et d'options innovantes en font un choix idéal pour une variété d'applications SEM.