Occasion JEOL JSM 6600F #9395491 à vendre en France

JEOL JSM 6600F est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui utilise un équipement hybride innovant contenant à la fois des sources d'émission de champ thermique (TFE) et de haute luminosité (HBF). Cette technologie de source hybride offre une plate-forme polyvalente idéale pour une grande variété d'applications dans les milieux de la recherche et de l'industrie, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie, le traitement des semi-conducteurs et le bioimaging. L'instrument dispose d'une puissante lentille de canon haute vitesse qui fournit un champ de vision fiable pour une imagerie précise et une excellente résolution. Son SE2 (l'Électron Secondaire) le système de détection fournit l'analyse exacte de renseignements topographiques aussi bien que les hautes images contrastées des propriétés de surface d'échantillons. Supplémentairement, JEOL JSM-6600F peut être muni avec une foule des capacités analytiques supplémentaires, en incluant l'énergie dispersive la spectroscopie de Rayons X (les RÉDACTEURS) pour découvrir des éléments avec de hauts nombres atomiques et un électron backscatter la diffraction (EBSD) pour les mesures crystallographic quantitatives. L'étage d'échantillonnage avancé de JSM 6600F permet un contrôle manuel et automatisé précis du mouvement vertical et latéral, avec une vitesse maximale de l'étage d'échantillon de 5mm/sec. La zone d'échantillonnage extra-large de la scène peut accueillir jusqu'à 6 pouces de diamètre spécimens, offrant une flexibilité dans la manipulation de l'échantillon. De plus, le contrôle du joystick très sensible permet un positionnement précis de l'échantillon, créant des images précises avec un contraste optimal et une résolution optimale. JSM-6600F offre également un large éventail d'autres caractéristiques pour répondre aux besoins des chercheurs et des ingénieurs. Une chambre à vide à double évacuation permet de réduire la dérive du faisceau et la charge des échantillons. Une unité auto-focus en option facilite le réglage et l'alignement des échantillons. L'instrument comprend également un sas pour le chargement et le déchargement des spécimens, une caméra vidéo pour la visualisation à distance et un outil de contrôle graphique facile à utiliser. Enfin, les excellentes performances de JEOL JSM 6600F sont soutenues par sa construction fiable et ses spécifications de haute performance. L'environnement contrôlé par la température maintenu à l'intérieur de l'instrument réduit les variations de dilatation thermique et fournit une plate-forme stable pour l'imagerie. L'initialisation rapide de l'actif accélère encore le démarrage. Un limiteur de faisceau d'ions aide également à réduire le risque de dommages dus à la surexposition.