Occasion JEOL JSM 6600FXV #9098215 à vendre en France

JEOL JSM 6600FXV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de matériaux. C'est un outil haut de gamme, optimisé pour les performances en microscopie électronique. Ce microscope fonctionne à l'aide d'un canon à électrons à émission de champ équipé d'un objectif magnétique classique intégré. En outre, JSM 6600FXV dispose d'un système de détection EDX à l'état solide pour la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie sur l'axe (EDX) et d'un processeur numérique à haute sensibilité pour capter l'imagerie à faible bruit. Le SEM est composé d'un environnement à vide ultra-élevé avec une plage de tension d'accélération contrôlable de 0,5 à 30kV et un afficheur haute résolution très sensible. Il dispose d'une chambre d'échantillonnage avec une unité d'entraînement de l'échantillon X, Y, Z et un porte-échantillon pour le positionnement de l'échantillon et les capacités de réglage de l'inclinaison. Ses porte-échantillons peuvent accueillir des échantillons dont les dimensions peuvent atteindre 220 x 200mm. Le microscope dispose également d'une machine avancée de traitement d'images, permettant une flexibilité pour la collecte et le traitement des données. JEOL JSM 6600FXV est équipé d'une multitude de caractéristiques analytiques, y compris un outil de courant induit par faisceau d'électrons (EBIC), des capacités EDX pour l'analyse élémentaire, et une fonction de carte chimique qui peut être utilisée pour caractériser les matériaux à l'échelle microscopique. L'actif EBIC permet aux chercheurs de détecter et de mesurer le type électrique local et le courant dans un spécimen. EDX permet à l'utilisateur d'effectuer une analyse chimique à haute sensibilité de la surface de l'échantillon et la fonction de carte chimique permet aux utilisateurs d'analyser la distribution spatiale des éléments au sein d'un échantillon. La capacité d'image des échantillons dans une gamme de conditions allant du vide élevé au gaz haute pression, ainsi qu'en mode cellule liquide de balayage, fait de JSM 6600FXV un instrument polyvalent. En outre, le canon à électrons avancé JEOL JSM 6600FXV permet de fonctionner dans des conditions analytiques, ce qui signifie que les résultats et les images générés par ce microscope sont de la plus haute qualité. JSM 6600FXV est un microscope électronique à balayage avancé, optimisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des matériaux. Il offre une gamme de caractéristiques telles que le canon électronique à émission de champ, le modèle de détecteur EDX, l'équipement de traitement d'image, le système EBIC, et plus encore, ce qui en fait un outil précieux pour la caractérisation des matériaux.