Occasion JEOL JSM 6610LA #293758763 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6610LA (SEM) est un outil d'analyse haute performance conçu pour la recherche scientifique dans une gamme de sous-disciplines allant de la science des matériaux aux sciences de la vie. JSM 6610LA est capable d'agrandir la surface des échantillons jusqu'à 900 000 fois et d'acquérir des images de diverses façons. Il est capable de produire des tomogrammes optiques 3D, des films de surface, de la cathodoluminescence, des électrons secondaires et des images d'électrons rétrodiffusés. JEOL JSM 6610LA dispose d'un environnement à vide élevé avec une petite chambre. Cet environnement garantit que le faisceau d'électrons peut pénétrer plus profondément l'échantillon sans contamination. Sa colonne dynamique électronique comporte un émetteur d'électrons de type cathode froide et un équipement électrostatique qui lui permet de réaliser une imagerie haute résolution à un courant relativement faible. Il est également conçu avec un système de filtrage d'énergie, permettant à l'utilisateur de contrôler l'énergie des électrons transmis à l'échantillon. Ceci assure que les électrons interagissent avec l'échantillon de la manière exacte souhaitée par l'utilisateur. La grande chambre de l'unité permet à l'utilisateur de mesurer des échantillons jusqu'à 120x120mm et 480x480mm selon l'état de l'échantillon. Il a une taille d'échantillon maximale de 10x10mm, ce qui permet à l'utilisateur de scanner rapidement de grands échantillons. JSM 6610LA est également livré avec une variété de fonctionnalités conviviales, comme un paquet de traitement d'image, qui permet à l'utilisateur de manipuler les images acquises de manière intuitive. En termes de capacités analytiques, JEOL JSM 6610LA est équipé d'une machine EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), qui peut être utilisée pour acquérir des signaux de rayons X et identifier des éléments dans l'échantillon. L'outil produit également des cartes élémentaires, qui montrent la répartition des éléments dans l'échantillon. L'actif EDS peut être utilisé pour mesurer la composition chimique d'un échantillon ainsi que sa composition en vrac. JSM 6610LA comprend également un modèle de spectrométrie de masse d'ions secondaires laser (SIMS), qui est utilisé pour analyser la surface d'un échantillon. L'équipement peut être utilisé pour détecter la présence d'atomes tels que l'hydrogène, l'oxygène et l'azote sur l'échantillon. Le système SIMS peut également être utilisé pour mesurer la concentration d'atomes métalliques présents à la surface et dans la majeure partie de l'échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6610LA est un microscope électronique à balayage sophistiqué avec une gamme de capacités. Il est très polyvalent et offre aux utilisateurs une gamme de fonctionnalités. Il peut être utilisé pour acquérir des images à haute résolution d'un échantillon ou pour analyser sa composition en surface et en vrac. L'appareil est fiable, intuitif et facile à utiliser.