Occasion JEOL JSM 6610LA #9410816 à vendre en France

JEOL JSM 6610LA est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images à haute résolution de la surface d'un échantillon avec une puissance de grossissement ultra-élevée. Il est équipé d'un système d'analyse des rayons X à dispersion d'énergie (EDX) qui peut analyser les éléments de l'échantillon à une résolution cellulaire. Ce système est utile pour examiner la structure des matériaux, la chimie de la surface d'un échantillon et la nature intime de sa composition. Le microscope a une puissance de grossissement allant jusqu'à x50,000 et une résolution minimale de 0.8 nm. Il utilise une source d'électrons à filament de tungstène, fournissant des électrons sur une large gamme d'énergie. La lentille du condenseur utilise un astigmatisme à intensité variable pour mieux focaliser le faisceau sans provoquer de distorsion de l'échantillon à des grossissements élevés. La conception comporte également une butée d'angle d'ouverture pour fournir une hauteur de pôle variable pour contrôler la taille du faisceau d'électrons. L'étage d'échantillon peut être déplacé à l'aide d'un mécanisme d'entraînement X-Y-Z qui permet de pousser et de tirer l'échantillon par rapport au faisceau d'électrons. La scène peut accueillir des échantillons allant jusqu'à 390mm × 305mm et est inclinable jusqu'à ± 50 °. Une étape automatique est également prévue pour permettre le balayage automatisé. JSM 6610LA a un compensateur de charge pour réduire l'effet des forces électrostatiques qui peuvent déformer les images des échantillons. Ceci est particulièrement utile lors de l'imagerie d'échantillons non conducteurs tels que des matières plastiques. Le logiciel SEM est conçu pour fournir des images et des données numériques avec une grande précision. Il peut stocker les paramètres de fonctionnement et les résultats pour une référence future. Il est également capable d'analyse de données et peut être utilisé pour détecter les changements dans les éléments de l'échantillon au fil du temps. JEOL JSM 6610LA offre aux utilisateurs des performances d'imagerie dans les domaines de la recherche et de l'industrie. Ses capacités d'imagerie haute résolution, ses mécanismes d'entraînement flexibles et son puissant logiciel d'analyse de données en font un outil d'imagerie précieux.