Occasion JEOL JSM 6610LV #9410899 à vendre en France

ID: 9410899
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Detector.
JEOL JSM 6610LV est un microscope électronique à balayage (SEM) doté de capacités avancées d'imagerie et d'analyse. Le 6610LV est un SEM haute performance capable de produire des images haute résolution avec une résolution inférieure à 1,3 nanomètres. Il est équipé d'une grande chambre et convient pour l'analyse d'échantillons gros et épais avec une taille maximale de l'échantillon jusqu'à 200mm de diamètre. Le 6610LV offre une large gamme de fonctionnalités telles que le balayage de haute précision, un haut degré d'automatisation, un système d'exploitation facile à utiliser, et un haut niveau de flexibilité. La conception inversée du SEM permet une surface de travail élargie, une taille d'échantillon plus grande et un niveau de vide plus élevé que les autres SEM. Le 6610LV supporte également une large gamme de détecteurs, à savoir les électrons secondaires (SE-1), les électrons rétrodiffusés (ESB), la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et d'autres. Le microscope électronique à balayage haute performance JEOL JSM 6610 LV est capable d'obtenir une imagerie et une analyse haute résolution. Il supporte des capacités d'analyse et d'observation supérieures et convient à une variété d'utilisateurs qui nécessitent des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution. Avec son aire de travail étendue et sa grande taille de chambre, JSM 6610LV supporte un large éventail de tailles d'échantillons et d'applications. En outre, le SEM est très automatisé et simple à utiliser. En tant que tel, le 6610LV est un outil idéal pour mener des recherches sur l'imagerie et les matériaux analytiques.
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