Occasion JEOL JSM 6700 #293768635 à vendre en France

JEOL JSM 6700 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour des applications en sciences des matériaux, géologie, sciences de la vie, et plus encore. Il offre une interface utilisateur intuitive et une qualité d'image supérieure pour permettre aux utilisateurs de réaliser des études complexes avec facilité. Les capacités de haute résolution du JSM 6700 en font un outil puissant pour détecter, mesurer et analyser les caractéristiques microscopiques. Le SEM utilise une source d'électrons à filament de tungstène qui produit un faisceau focalisé d'électrons. Ce faisceau est dirigé sur la surface de l'échantillon et un ensemble secondaire d'électrons est émis et recueilli par un détecteur. On obtient ainsi une image de l'échantillon qui contient des informations sur la topographie, la composition et d'autres caractéristiques. JEOL JSM 6700 est capable de produire des images avec une résolution inférieure à 1nm, ce qui en fait un choix idéal pour les applications d'imagerie haute résolution. L'instrument prend également en charge un large éventail de modes d'imagerie pour différentes applications, telles que le champ lumineux, le champ noir, la rétrodiffusion et certains modes plus spécialisés. En combinant les modes d'imagerie avec ses capacités de haute résolution, JSM 6700 peut produire des images des caractéristiques les plus complexes. JEOL JSM 6700 offre également une gamme de fonctionnalités avancées pour améliorer l'expérience de l'utilisateur, y compris l'imagerie multifaisceaux, la correction des inclinaisons, la couture automatisée des images et la spectroscopie ligne/point. La fonction d'imagerie multifaisceaux permet aux utilisateurs de recueillir plus de données en moins de temps. La fonction de correction d'inclinaison assure la qualité des images prises sur des échantillons sous un angle, et le piquage automatisé des images permet à l'utilisateur de créer une seule grande image panoramique à partir de plusieurs plus petites. Enfin, la spectroscopie ligne/point fournit une analyse chimique détaillée de l'échantillon. En plus de ses capacités d'imagerie, JSM 6700 dispose également d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDXD), qui est utilisé pour analyser la composition élémentaire de l'échantillon. Le détecteur est combiné avec des filtres et des lentilles appropriés pour produire les signaux nécessaires à l'examen de l'échantillon. Ceci est particulièrement utile pour des applications telles que la caractérisation des matériaux. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6700 est un puissant SEM qui offre des capacités d'imagerie haute résolution, des modes d'imagerie avancés, et des fonctionnalités supplémentaires, y compris EDXD. C'est un excellent choix pour les chercheurs à la recherche d'un outil fiable et capable.