Occasion JEOL JSM 6700F #293598389 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications de recherche et développement dans les industries associées aux matériaux, biomolécules et autres nanomatériaux. Ce microscope haute résolution fonctionne sur des électrons secondaires générés à partir d'un faisceau d'électrons primaires et est équipé d'un canon d'émission de champ qui aide à améliorer la résolution et la précision des images SEM. En utilisant une technique appelée microscopie électronique à balayage par émission de champ (FE-SEM), JEOL JSM 6700 F fournit un faisceau d'électrons très cohérent et de faible énergie capable de résoudre des caractéristiques allant jusqu'au sous-nanomètre. JSM 6700F utilise une lentille électrostatique de type pôle et une série de lentilles de condenseur pour focaliser le faisceau d'électrons, donnant à l'instrument des niveaux de précision et de précision sans précédent. Les fonctionnalités avancées, telles que les processeurs de signaux numériques (DSP) qu'il comporte, aident à réduire la diffusion indésirable et produisent des images claires avec une stabilité accrue. JSM 6700 F a également la capacité de numériser en trois dimensions à l'aide de son étage avancé, permettant à l'utilisateur de trouver des couches plus profondes d'échantillons et de mieux comprendre les structures internes des matériaux. Cela le rend parfait pour des applications telles que les cellules d'imagerie, la recherche tissulaire et les nanomatériaux. Le détecteur secondaire d'électrons (SED) de JEOL JSM 6700F est également capable de produire des images de haute qualité. Cette technologie fonctionne avec un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour l'analyse et l'image de régions avec un angle de diffusion d'électrons élevé, permettant la construction d'images tridimensionnelles d'échantillons. Ce détecteur de haute précision a également l'avantage de produire une résolution d'image beaucoup plus élevée que d'autres SEM. JEOL JSM 6700 F est aussi un puissant qui offre aux utilisateurs une large gamme de fonctionnalités, y compris l'affichage au microscope en direct, l'autofocus, l'imagerie sous pression, le blindage amélioré de l'air, et la correction de faible aberration optique. Cet instrument peut être utilisé dans pratiquement tous les contextes industriels, comme dans les semi-conducteurs, l'aérospatiale et la biomédecine, et est fortement recommandé pour des applications de recherche et/ou de développement.