Occasion JEOL JSM 6700F #293600930 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images détaillées de la surface d'un échantillon. Il dispose d'un pouvoir de résolution extraordinaire, d'un haut degré de précision et de la capacité d'effectuer un large éventail de techniques d'analyse. L'instrument dispose d'un chanfrein à pression variable qui permet de maintenir l'atmosphère intérieure à faible vide, permettant à l'utilisateur d'effectuer une imagerie SE et une analyse EDX indépendantes des propriétés conductrices ou des caractéristiques de l'échantillon. En utilisant les électrons secondaires et les électrons rétrodiffusés générés par un faisceau d'électrons incident sur un échantillon, JEOL JSM 6700 F permet à l'utilisateur d'obtenir une imagerie haute résolution et une micro-analyse quantitative d'échantillons non conducteurs. JSM 6700F est équipé d'une fonction auto-focus qui ajuste le foyer de l'échantillon pour fournir des conditions d'imagerie optimales. Sa conception de pistolet et de lentille objective offre d'excellentes performances analytiques, en particulier lorsqu'il est combiné avec sa gamme d'énergie élargie des appareils à rayons X dispersifs d'énergie. En utilisant le système de rayons X dispersifs d'énergie (EDX), JSM 6700 F est capable de fournir une sensibilité élémentaire jusqu'à quelques centaines de parties par million (p.p.m.). Le SEM intègre un appareil photo numérique moderne qui utilise un lent balayage et un enregistrement d'images à grande vitesse de l'imagerie d'échantillons de mouvement, lui permettant de fournir des images de résolution supérieure et d'afficher des détails clairs et nets de la microstructure de l'échantillon. La durée de l'enregistrement peut être ajustée, permettant en outre l'imagerie d'échantillons qui possèdent des caractéristiques dynamiques ou qui peuvent prendre de longues périodes avant d'atteindre l'état d'équilibre. Le logiciel convivial de JEOL JSM 6700F facilite le fonctionnement pratique de l'instrument. Il comprend une unité de dessin pour reconstruire la forme tridimensionnelle des échantillons numérisés, une machine de bibliothèque pour la gestion des images et un logiciel d'analyse multi-éléments pour l'analyse quantitative. JEOL JSM 6700 F est un outil inestimable pour les ingénieurs et les scientifiques qui recherchent et analysent des matériaux échantillons. En fournissant une image détaillée et précise de la microstructure de l'échantillon, l'instrument permet aux utilisateurs de faire des observations précises et de mieux comprendre le matériau de l'échantillon, ce qui en fait un outil précieux dans l'étude des propriétés de surface, de la science des matériaux et des applications des nanotechnologies.