Occasion JEOL JSM 6700F #293608930 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) qui offre des capacités d'imagerie extraordinaires grâce à son système optique à électrons monochromés. Il est capable d'obtenir des images à haute résolution avec une profondeur de champ spectaculaire. Avec une optique de haute qualité et un traitement avancé du signal, JEOL JSM 6700 F obtient une excellente résolution spatiale, jusqu'à 50 nm en mode de fonctionnement, malgré une tension d'accélération de 1,2 kV. JSM 6700F utilise des électrons rétrodiffusés (ESB) pour capturer des images d'échantillons avec un niveau de détail frappant. Les échantillons peuvent être observés dans une grande variété de conditions et de techniques de préparation, telles que des échantillons secs ou des cellules liquides. JSM 6700 F a une dynamique de plus de cinq ordres de grandeur, étant capable de détecter même les contrastes les plus faibles entre différents points de l'échantillon. Cela permet un haut niveau de détail dans les observations, révélant des preuves de variation morphologique et/ou de composition. JEOL JSM 6700F dispose également d'un goniomètre 4 axes avancé qui fournit une manipulation d'échantillon très précise. Cela permet d'analyser les échantillons en gros détails, en particulier ceux de très petite taille. Les échantillons peuvent également être analysés in situ. JEOL JSM 6700 F possède une combinaison unique de caractéristiques, telles que des étages de vide dédiés à l'observation in situ, permettant l'analyse à différentes températures et pressions contrôlées. Cela rend l'instrument utile pour des expériences telles que la tribologie in situ, les expériences électro-chimiques ou d'autres qui subissent des changements de température ou de pression. Grâce à sa faible tension d'accélération et à son environnement de pression variable, JSM 6700F est particulièrement adapté à l'étude d'échantillons sensibles à l'irradiation électronique, tels que les matériaux organiques. JSM 6700 F est équipé d'un mode navigateur qui présente l'image observée sur un écran d'affichage avec une interface utilisateur graphique. Cet affichage présente une vue angulaire de l'observation au lieu de la vue linéaire standard qui permet une meilleure représentation de l'échantillon. JEOL JSM 6700F bénéficie d'une opération hautement automatisée, ce qui le rend facile à utiliser même pour les utilisateurs novices. Les processus d'acquisition d'images et d'analyse peuvent être automatisés pour gagner du temps, permettant aux utilisateurs d'éditer des séquences et des paramètres sans relancer l'ensemble du processus d'imagerie. En conclusion, JEOL JSM 6700 F est un microscope électronique à balayage avancé et sophistiqué, offrant des capacités d'imagerie microscopique à un niveau de détail sans précédent, idéal pour l'étude des matériaux, à la fois in situ et ex situ.