Occasion JEOL JSM 6700F #293655231 à vendre en France

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument de haute performance pour l'observation et l'analyse d'une grande variété d'échantillons. Il offre une qualité d'image et une résolution supérieures en raison de sa taille fine et de sa longue distance de travail. Le 6700F dispose d'un canon à émission de champ froid (canon CFE) pour produire des images de haute qualité avec une profondeur de champ supérieure et une excellente résolution avec des grossissements jusqu'à 300.000x. Le canon CFE produit de faibles courants de faisceau d'électrons et permet un fonctionnement à basse tension qui augmente la distance de travail de l'instrument qui peut atteindre jusqu'à 100mm. Le 6700F a également une grande surface d'imagerie à l'état solide de 25mm x 25mm et est capable de produire différents types de contraste, y compris le détecteur d'électrons rétrodiffuseur (BED) et l'imagerie In-lens (IL). En outre, le 6700F peut être équipé d'un détecteur optionnel du deuxième étage qui peut fournir une imagerie électronique secondaire en mode réfléchi et en mode transmis. La chambre d'échantillonnage de 59mm peut contenir des échantillons de tailles allant jusqu'à 55mm de diamètre. La chambre d'échantillonnage dispose également d'un contrôle automatisé et d'un échange d'échantillons avec des accessoires optionnels tels qu'une serrure de chargement, un étage de refroidissement cryo et un étage frais. En outre, le 6700F a une performance analytique supérieure avec un système EDS optionnel conçu spécifiquement pour le kit. Le système EDS peut fournir des analyses élémentaires des matériaux et est utilisé pour mesurer des éléments légers tels que le carbone, l'oxygène et le soufre. JEOL 6700F est également un SEM automatisé, équipé des capacités de Scanning Probe Image and Analysis (SPIA) et Advanced Scanning Auger Microscopy (SAM). SPIA fournit l'imagerie 3D pour la caractérisation à l'échelle nanométrique en combinant les modes d'analyse de ligne et d'imagerie pour de plus grandes zones, tandis que SAM permet l'analyse des oligo-éléments avec une résolution de 0.1nm. Le 6700F est aussi un microscope de Spectroscopie de photon de rayons X (XPS), qui permet la collection de spectres de Rayons X à haute résolution des surfaces. Les fichiers spectroscopiques peuvent être utilisés pour analyser la composition élémentaire et les états de liaison de la surface de l'échantillon. Dans l'ensemble, JEOL JSM 6700 F est un instrument polyvalent pour l'imagerie et l'analyse de divers échantillons. Son canon à émission de champ froid, ses capacités d'imagerie 3D, son contrôle automatisé des chambres d'échantillonnage et ses capacités XPS le rendent idéal pour les chercheurs d'une grande variété de disciplines.