Occasion JEOL JSM 6700F #293672256 à vendre en France

JEOL JSM 6700F Scanning Electron Microscope (SEM) est un appareil de pointe conçu pour fournir aux utilisateurs un outil puissant et précis pour caractériser la structure et la composition des matériaux au niveau nano-échelle. JEOL JSM 6700 F intègre une gamme de fonctionnalités et de composants pour assurer les plus hauts niveaux d'imagerie et d'analyse de qualité. L'équipement JSM 6700F est construit autour d'un système entièrement automatisé avec une gamme de fonctionnalités d'automatisation numérique. Les fonctions SEM intelligentes permettent un fonctionnement rapide et précis même dans les applications les plus exigeantes. Le microscope dispose d'une unité de contrôle de balayage à haut débit ainsi que d'une machine de contrôle de flux thermique intégrée et d'un mécanisme de focalisation automatique sur colonne avancé. Ces fonctionnalités se combinent pour créer une capacité d'imagerie et d'analyse automatisée et précise. Le microscope possède un canon à émission de champ (FEG) capable de produire des images à haute résolution. Ce canon présente un faible angle d'étalement, une longue profondeur focale, une faible divergence et une large gamme de grossissements. Le JSM 6700 F est également livré avec un étage à pression variable (VPS). Cette étape peut être ajustée à différentes plages de pression atmosphérique, permettant d'analyser des échantillons à différents niveaux de détail. Le microscope est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire à haute résolution et d'un détecteur à champ lumineux. Ces détecteurs peuvent être utilisés pour toute une gamme d'opérations d'imagerie, d'analyse et de mesure, telles que l'identification de zones à fort contraste, la détection de caractéristiques de surface ou de fissures, et la numérisation de lignes. JEOL JSM 6700F est également livré avec une gamme d'outils logiciels pour l'analyse et la représentation des données. Ces outils permettent aux utilisateurs de collecter, tracer et analyser des données provenant de divers types de spécimens. Cela inclut la transmutation d'images, la fusion d'images et la possibilité de créer des représentations tridimensionnelles à partir d'images. En outre, JEOL JSM 6700 F comprend une gamme d'options qui peuvent améliorer davantage les capacités du microscope. Il s'agit notamment d'un détecteur d'émissions de champ, d'une pile à oxygène et d'un chauffe-colonne, ainsi que d'une gamme d'accessoires de préparation d'échantillons. Ces suppléments aident à améliorer la précision et la résolution des opérations d'imagerie et d'analyse du microscope. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage JSM 6700F est un outil puissant et polyvalent pour la recherche et l'analyse à l'échelle nanométrique. C'est un choix idéal pour ceux qui souhaitent atteindre des niveaux exceptionnels de performance d'imagerie et d'analyse.