Occasion JEOL JSM 6700F #293685416 à vendre en France
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Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage polyvalent à haute performance. Sa conception avancée lui permet de fournir une haute résolution dimensionnelle et l'imagerie de contraste élevé d'une large gamme d'échantillons. Sa source d'électrons à émission de champ (FEG) présente d'excellentes caractéristiques, fournissant un faible courant de faisceau, une faible divergence de faisceau et une grande luminosité. En conséquence, cela le rend idéal pour une variété d'applications d'imagerie. JEOL JSM 6700 F offre une plage de grossissement de 20x à 200.000x dans la gamme 3kV, et de 10x à 100.000x dans la gamme 0.5kV. Le courant électronique varie de 0,5 nA à 100 nA. Pour l'imagerie, il est équipé d'une interface numérique et analogique pour un maximum d'utilité. Les deux caméras numériques séparées, un balayage lent à déplétion profonde (1K x 1K) et un balayage rapide à haute résolution (2K x 2K) permettent une imagerie à très haute résolution. Le logiciel intégré de capture et de gestion d'images permet un traitement et un stockage de fichiers faciles. JSM 6700F est capable d'effectuer une gamme d'interactions d'échantillons tels que l'imagerie par électrons secondaires (SE), l'imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB) et la spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie (EDS). Cela permet l'analyse d'un échantillon tant par sa composition élémentaire que par ses caractéristiques morphologiques. L'analyse EDS est obtenue soit avec un détecteur SDD, soit avec un spectromètre X-MAX selon l'application. JSM 6700 F offre également une variété d'états de vide pour accueillir une gamme d'échantillons. Il peut fonctionner en mode vide classique (1 x 10-5 Torr) ou en mode vide élevé (5 x 10-7 Torr), et peut être utilisé en combinaison avec le refroidissement à l'azote liquide pour geler les échantillons et permettre la microscopie cryo-électronique. JEOL JSM 6700F offre également une gamme d'options intégrées pour personnaliser le microscope pour des applications spécifiques. De plus, le microscope peut être intégré dans un environnement d'échantillonnage automatisé à grande échelle pour l'imagerie in situ et l'acquisition de données. Dans l'ensemble, le JEOL JSM 6700 F offre un haut niveau de performance pour un large éventail d'applications, et ses options intégrées et ses capacités automatisées en font un choix approprié à des fins d'imagerie en laboratoire et à haut débit.
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