Occasion JEOL JSM 6700F #293754691 à vendre en France

ID: 293754691
Scanning Electron Microscope (SEM) With EDX.
JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise des électrons secondaires (SE) pour produire des images à haute résolution. Le SEM est équipé d'une fonction SEM à pression variable ETL (VP-SEM), qui se traduit par une réduction de la pression d'émission d'électrons, permettant d'augmenter la profondeur de champ et la résolution de l'échantillon. En utilisant une pression variable de 0,1 Pa à 10 Pa, les échantillons peuvent être étudiés dans une gamme de conditions ambiantes. JEOL JSM 6700 F a une tension d'accélération de 0,1 à 30 kV, ce qui se traduit par une dynamique élevée pour l'imagerie de contraste maximum. Ce SEM offre une chambre environnementale haute performance avec une plage de température allant de 0 C à 135 C et un vide allant jusqu'à 10-3 Pa. En outre, ce modèle dispose d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) haute sensibilité et d'un système EDX qui permet l'analyse élémentaire de la composition de l'échantillon avec une grande précision. JSM 6700F est capable de collecter des données numériques qui sont utilisées pour créer des images 3D par tomographie électronique. Ce SEM produit également des électrons secondaires (SE) ainsi que des capacités de balayage aller et retour. Les SE rendent une image de contraste élevé, tandis que la capacité de balayage d'arrière en arrière permet de scanner l'échantillon à plusieurs reprises. La source d'émission sur le terrain haute performance fournit une excellente imagerie haute résolution avec une grande sensibilité aux petites caractéristiques et topographie sur l'échantillon. Le JSM 6700 F est équipé d'une grande distance de travail, ce qui permet de visualiser toute la surface du bourrelet en même temps. En outre, ce SEM a la capacité unique de produire plusieurs images à un même plan de focalisation, combinant l'analyse et l'imagerie ensemble. Ces caractéristiques, ainsi que les détecteurs à haute sensibilité, font de JEOL JSM 6700F un choix idéal pour un large éventail d'applications, en particulier pour l'imagerie haute résolution, l'imagerie ultra-résolution, le balayage environnemental et l'EDX. En bref, JEOL JSM 6700 F est un excellent choix de SEM pour une variété de buts de recherche industrielle, biomédicale et universitaire.
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