Occasion JEOL JSM 6700F #293775754 à vendre en France

JEOL JSM 6700F est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un canon à émission de champ (FEG) qui permet l'observation d'échantillons jusqu'à l'échelle du nanomètre. La source d'électrons dans ce SEM est une FEG, qui fournit plus stable, plus de courant et plus de résolution que les émetteurs thermioniques, d'où une résolution d'image améliorée. Ce SEM est conçu pour l'imagerie, l'analyse élémentaire et le fonctionnement automatisé. JEOL JSM 6700 F a une plage de tension de fonctionnement de 30 à 30kV et un système de refroidissement à l'azote liquide très fiable. Le système fonctionne en mode à pression variable (VP) ou à vide variable (VV). La limite de détection inférieure de 1.2nm est possible en mode VP, tandis qu'en mode VV elle peut être aussi faible que 2.1nm. La plage de grossissement de JSM 6700F est de 10x à 500kX. Le champ de vision maximal est de 400 mm, et la résolution maximale est de 1,2 nm à 15kV en mode VP. Pour un fonctionnement automatisé, JSM 6700 F est équipé d'un changeur d'échantillon automatique (ASC). Ce NCP permet de changer rapidement la configuration de l'échantillon, ce qui augmente considérablement le débit de l'échantillon et la précision de l'analyse. JEOL JSM 6700F peut également être commandé à partir d'un ordinateur externe, augmentant encore la vitesse potentielle d'acquisition de données. JEOL JSM 6700 F peut être utilisé pour diverses applications, y compris l'imagerie à fort grossissement, l'analyse élémentaire, l'EBSD (diffusion de rétrodiffusion d'électrons) et l'analyse automatisée d'échantillons. Il dispose d'un détecteur d'électrons secondaires (SE) pour l'imagerie standard, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour l'analyse de matériaux non conducteurs, d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDX) pour l'analyse élémentaire et d'un détecteur de champ de grande profondeur pour fournir une image tridimensionnelle. En plus de ses capacités d'imagerie, JSM 6700F est également capable de micro-analyse aux rayons X. Le détecteur EDX permet des analyses élémentaires des matériaux à l'échelle du nanomètre, fournissant des résultats précis à plus de 1 %. Le JSM 6700 F est bien adapté aux applications de recherche, à la R-D, à l'assurance qualité et à l'analyse des défaillances. Les capacités d'échantillonnage et l'automatisation intégrée de ce SEM permettent une analyse et une collecte de données rapides et faciles.